Table des Matières
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Temps
Entrées
Durée max. des impulsions
de test externes
Sortie à semiconducteurs
(transistors)
Impulsion de test de
coupure
Temps de réponse
Sortie à relais
Temps de réponse
Temps de réaction
Sections raccordables
Cond. à âme massive
Souple avec embout
Tournevis plat
Tournevis plat
Couple de serrage max.
678
01/13 MN05013001Z-FR
ES4P...
ms
1
ms
< 1
ms
< 1
ms
<50
ms
a page 627
2
mm
0,2 – 4 (AWG 22 – 12)
2
mm
0,2 – 2,5 (AWG 22 – 12)
mm
3,5 x 0,8
inch
0,14 x 0,03
Nm
0,6
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