Texas Instruments TI-84 Plus Manuel D'utilisation page 410

2-SampÜTest
Voici la définition du test
,
Sx1 Sx2
Ü
f(x, n 1 – n , 1 – )
1 2
p
Ü
pour l'alternative
2-Samp Test
α
∫
(
p = f x n , – 1 n ,
1
F
Ü
pour l'alternative
2-Samp Test
F
∫
(
p = f x n , – 1 n ,
1
0
Ü
pour l'alternative s
2-Samp est
L
bnd
p
∫
(
-- - = f x n , – 1 n
1
2
0
avec [Lbnd,Ubnd] = limites inférieure et supérieure respectivement
La statistique Ü- est utilisée comme limite produisant la plus petite intégrale. L'autre limite est
sélectionnée pour obtenir la relation d'égalité de l'intégrale précédente.
2-SampTTest
Voici la définition du test
degrés de liberté est définie comme suit :
df
x – x
1 2
t = --------------- -
S
Ü
.
2-Samp Test
= Ecarts types des échantillons avec les degrés
n 1 –
de liberté (df) et
1
2
Sx1
⎛ ⎞
Ü-statistic =
-------- -
=
⎝ ⎠
Sx2
= Ûpdf( ) avec les degrés de liberté df
n 1 –
et
2
= valeur de la probabilité critique
σ > σ
.
1 2
)dx
– 1
2
σ < σ
.
1 2
)dx
– 1
2
. Les limites doivent satisfaire la condition suivante :
ƒ s
1 2
∞
∫
) x d (
, – 1 = f x n ,
2 1
U
bnd
. La loi statistique t sur deux échantillons indépendants avec les
2-SampTTest
n 1 –
respectivement.
2
n 1 –
,
1
) x d
– 1 n , – 1
2
Annexe B: Informations générales 403