Abréviations; Déclaration De Conformité - ABB ACS880-17 Manuel D'installation

244 Fonction STO
Abréviations

Abrév. Référence
Cat. EN ISO 13849-1
CCF EN ISO 13849-1
DC EN ISO 13849-1
FIT CEI 61508
HFT CEI 61508
MTTF EN ISO 13849-1
D
PFD CEI 61508
moy
PFH CEI 61508
PL EN ISO 13849-1
SC CEI 61508
SFF CEI 61508
SIL CEI 61508
SILCL CEI/EN 62061
SS1 CEI/EN 61800-5-2
STO CEI/EN 61800-5-2
T1 CEI 61508-6
Déclaration de conformité

Cf. section Conformité à la directive européenne Machines
Description
Classification des parties des systèmes de commande relatives à la
sécurité en fonction de leur résistance à la défaillance et de leur com-
portement en situation de défaut, qui résulte de l'agencement des diffé-
rents éléments, de la détection des défauts et/ou de leur fiabilité. Ces
différentes catégories sont : B, 1, 2, 3 et 4.
Défaillance de causes communes (%)
Degré de couverture du diagnostic
Taux de défaillance : 1E-9 heures
Tolérance aux défaillances matérielles
Temps moyen avant panne dangereuse : (nbre total d'unités de vie) /
(nbre de défaillances dangereuses non détectées) au cours d'une
période de mesure donnée ou dans des conditions spécifiées
Probabilité moyenne de défaillance sur demande
Fréquence moyenne de défaillance dangereuse par heure
Niveau de performance. Les niveaux a...e correspondent aux niveaux
SIL.
Capacité systématique
Proportion de défaillances en sécurité (%)
Niveau d'intégrité de sécurité (1...3)
Niveau SIL maximal (niveau 1...3) qui peut être revendiqué pour une
fonction de sécurité ou un sous-système
Arrêt sécurisé 1
Interruption sécurisée du couple
Intervalle entre essais de validation. Le paramètre T1 sert à définir le
taux de probabilité de défaillance (PFH ou PFD) pour la fonction ou le
sous-système de sécurité. Pour conserver une capacité SIL valide, il
faut réaliser des essais à un intervalle maximum de T1. Le même inter-
valle s'applique pour valider la capacité PL (EN ISO 13849). Notez que
les valeurs T1 données n'offrent aucune garantie.
Cf. également section Maintenance (page 242).
(page 193).