■ Sous-écran de l'écran du menu des conditions de mesure
CONSEIL
• Pour plus d'informations à propos du réglage des conditions de mesure, voir le Chapitre
7, « MODIFICATION DES CONDITIONS DE MESURE ».
Écran du menu des conditions de mesure
Écran des conditions de mesure
Écran de sélection de la charge en condition de mesure
Écran de sélection de suppression des conditions de mesure
Écran permettant de renommer un fichier de conditions de mesure
2-8
Hiérarchie d'affichage
Écran d'emplacement de l'enregistrement des conditions de mesure
Écran d'enregistrement de la mémoire interne
Écran de nouvel enregistrement
Écran d'enregistrement de la carte mémoire
Écran de réglage de la norme de rugosité
Écran de réglage du profil d'évaluation
Écran de paramétrage
Écran de réglage du filtre
Écran de réglage de la longueur de cutoff (λc)
Écran de réglage de la longueur de cutoff (λc)
Écran de réglage des longueurs d'échantillonnage
Écran de réglage de la longueur arbitraire
Écran de réglage de pré-course / post-course
Écran de réglage de la vitesse de déplacement
Écran de réglage de la plage de mesure
Écran de charge de la mémoire interne
Écran de charge de la carte mémoire
Écran d'effacement de la mémoire interne
Écran d'effacement de la carte mémoire
Écran permettant de renommer un fichier de mémoire interne
Écran permettant de renommer un fichier de carte mémoire
Section concernée
-
-
7.13.2
7.2
7.3
7.4, Chapitre 8
7.5
7.6
7.7
7.8
7.9
7.10
7.11
7.13.3
7.13.4
7.13.5
No. 99MBB122F