Mitutoyo SURFTEST SJ-210 Manuel D'utilisation page 135

■ Relation entre mesure de la longueur d'échantillonnage et valeur de cut-off (λs)
Lorsque "P" est sélectionné pour le profil d'évaluation, la mesure de la longueur
d'échantillonnage est affichée comme option relative au cut-off. Le symbole utilisé pour
représenter la mesure de la longueur d'échantillonnage change selon la norme de
rugosité définie. Lorsque les normes de rugosité "JIS2001", "ISO1997", "VDA" ou "Libre"
sont sélectionnées, "ℓp" est affiché. Lorsque la norme de rugosité "JIS1982" est
sélectionnée, "ℓ" est affiché.
Lorsque la mesure de la longueur d'échantillonnage est réglée, la valeur de cut-off (λs) est
réglée en conséquence, comme détaillé ci-dessous.
Profils
d'évaluation
1
* :
2
* :
7-12
Mesure de la longueur
d'échantillonnage (ℓp,
ℓ) µm(µin)
P 0,08(0.003)
0,25(0.01)
0,8(0.03)
2,5(0.1)
Lorsque la norme de rugosité utilisée est "VDA", or "Libre" the valeur de
cut-off (λs) peut être réglée sur "AUCUNE".
Lorsque la norme de rugosité utilisée est "JIS1982", la valeur de cut-off (λs)
est réglée sur "AUCUNE".
Valeur de cut-off (λs)
µm(µin)
*1, *2
2,5(100)
*1, *2
2,5(100)
*1, *2
2,5(100)
*1, *2
8(320)
No. 99MBB122F