Longueurs De Cut-Off / Longueurs D'échantillonnage; D'échantillonnage Et Intervalle D'échantillonnage; Nombre De Longueurs; Limite Supérieure Des Longueurs De Motif / Des Longueurs D'évaluation, Nombre De Longueurs D'échantillonnage Et Intervalle D'échantillonnage - Mitutoyo SURFTEST SJ-210 Manuel D'utilisation

Appareil à mesurer les états de surface
Masquer les pouces Voir aussi pour SURFTEST SJ-210:
Table des Matières

Publicité

17.3.3
Longueurs de cut-off / longueurs d'échantillonnage, nombre de longueurs
d'échantillonnage et intervalle d'échantillonnage
Longueur
de cutoff
*1
(λc)
0.08 mm
(0.003in)
0.25 mm
(0.01in)
0.8 mm
(0.03 in)
2.5 mm
(0.1 in)
*1: Ces longueurs de cutoff (λc) s'appliquent lorsque le profil R est spécifié.
17.3.4
Limite supérieure des longueurs de motif / des longueurs d'évaluation,
nombre de longueurs d'échantillonnage et intervalle d'échantillonnage
Limite haute
d'une longueur
de motif (A)
[mm (in)]
(0.001)
(0.004)
No. 99MBB122F
Longueur
λs
d'échantillonnage
(ℓ)
2.5 µm
0.08 mm
(100
(0.003 in)
2.5 µm
0.25 mm
(100
(0.01 in)
2.5 µm
0.8 mm
(100
(0.03 in)
2.5 mm
8 µm
(0.1 in)
(320µin)
Longueur
d'évaluation (L)
[mm (in)]
0.02
0.3 ≤ L ≤ 0.64
(0.0118 ≤ L ≤ 0.0252)
0.1
0.65 ≤ L ≤ 3.2
(0.0256 ≤ L ≤ 0.126)
0.5
3.3 ≤ L ≤ 16
(0.02)
(0.130 ≤ L ≤ 0.630)
17. SPÉCIFICATIONS DU PRODUIT
Intervalle
d'échantillonnage
0.5 µm
(19.69 µin)
µin)
0.5 µm
(19.69 µin)
µin)
0.5 µm
(19.69 µin)
µin)
1.5 µm
(59.1 µin)
Longueur de
cutoff (λs)
[µm (µin)]
2.5
(100)
2.5
(100)
8
(320)
Nombre de
Nombre de
données dans une
longueur
longueur
d'échantillonnages
d'échantillonnages
160
500
1600
1666
Pas
d'échantillonnage
∆x [µm (µin)]
0.5
(19.685)
0.5
(19.685)
1.5
(59.055)
1-10
1-10
1-8
1-5
17-3

Hide quick links:

Publicité

Table des Matières
loading

Table des Matières