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MI 3365 /25A /M /F OmegaEE XD
Remarques:
La deuxième étiquette est destinée à marquer les cordons d'alimentation.
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Les données non disponibles ne seront pas imprimées sur l'étiquette.
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La date de test ou de retest est définie dans le menu General Settings => Devices => Writing
devices.
Si Auto Sequence® a été modifié, son code court est marqué d'un astérisque (*).
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Following table describes data content written on RFID / NFC tag.
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Type d'étiquette RFID
/ NFC
NTAG216
A.2 Format générique des balises
Elle est destinée à l'étiquetage des objets de la structure (élément, appareil, équipement) qui
peuvent être testés et dont l'emplacement sous l'objet de la structure mère est important.
L'impression des étiquettes peut être lancée à partir de l'objet de structure sélectionné
(élément, appareil, équipement), même si aucune Auto Sequence® n'y est associée, ou à partir
d'une Auto Sequence® finie enregistrée sous cet objet.
Les données des balises présentées dans la zone de texte sont les suivantes:
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ID (nom) de l'objet de la structure mère (← Object_name)
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Code de test court Auto Sequence® (si impression à partir d'Auto Sequence® ; si impression
à partir de la zone de l'objet est omise)
ID de l'objet (nom)
-
Date du test (|→ DD.MM.YYYY) ou date du retest (→| DD.MM.YYYY), celle qui est
-
sélectionnée dans le menu General Settings => Devices => Writing devices (Paramètres
généraux => Périphériques => Périphériques d'écriture)
Statut (impression à partir de l'objet : statut global de tous les tests annexés à l'objet ou
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aux objets de la sous-structure ; impression à partir d'Auto Sequence® : son statut)
Nom d'utilisateur (impression à partir d'Auto Sequence : utilisateur qui a effectué le test ;
-
impression à partir de l'objet : utilisateur connecté actuel)
Les données d'étiquetage présentées dans la zone de lecture automatique sont les suivantes:
ID (nom) de l'objet de la structure mère
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Code de test court Auto Sequence® (si impression à partir d'Auto Sequence® ; si impression
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à partir de l'objet, le champ est omis)
ID (nom) de l'objet
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Date du test
Période de retest (à partir de la description de l'appareil)
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Auto Sequence® status (le champ est omis s'il n'est pas imprimé à partir d'Auto Sequence®)
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État de l'objet (état général de tous les tests annexés à l'objet ou aux objets de la sous-
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structure)
Donnée
Test code, device ID, device name, test date, retest period, location,
user, status, measurement results.
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Annexe C
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