X-Rite i1 Pro Manuel De L'utilisateur page 78

Technische Daten
Spektral-
technologie:
Messfrequenz im Scanmodus
Optik:
Reflexions-
messung:
78
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i1 ®
Diodenraster) mit integriertem Wellenlängentest
Spektralbereich 380 - 730 nm
Physikalisches Messintervall 3,5 nm
Optische Auflösung 10 nm
Spektrale Auflösung 380 nm ... 730 nm mit 10 nm Intervall
200 Messungen pro Sekunden
Messgeometrie 45°/0°; Ringbeleuchtungsoptik, ISO 13655:2009
Messblende 4,5 mm Durchmesser
(effektive Messblende während des Scans hängt von der Messfeldgröße
und Messgeschwindigkeit ab)
Messfleckgröße 3,5 mm
Lichtquelle Gasgefüllte Wolfram-Glühlampe (Typ A) und UV-LED
spektrale Reflexion (dimensionslos)
Messbedingungen
D50 - ISO 13655:2009 Messung M1
UVCut - ISO 13655:2009 Messung M2
OBC:
-Technologie (holografisches Beugungsgitter mit einem 128-Pixel-