Chauvin Arnoux C.A 6545 Notice De Fonctionnement page 113

 Typische Stabilisierungszeit des Messwertes je nach geprüfter Isolation (U
Diese Werte beinhalten die Einfl üsse der kapazitiven Ladung des Prüfl ings , der automatischen
Messbereichswahl und der Einregelung der Prüfspannung.
Prüfspannung
500 V
1000 V
2500 V
5000 V
 Typische Entladezeit des Prüfkreises auf max. 25 V
Prüfspannung
Entladezeit (C in µF)
 Typischer Verlauf der Prüfspannung in Abhängigkeit von der Last
V
600
500
400
300
200
100
0
0,01
Nicht kapazitiv
Last
(Messung nicht geglättet)
1 M 
100 G 
1 M 
100 G 
3 M 
100 G 
5 M 
100 G 
500 V
C x 3 s
Prüfspannung 500 V
0,1
113
Mit Kapazität von 1 µF
(geglättete Messung)
3 s
8 s
3 s
8 s
3 s
8 s
4 s
8 s
DC
1000 V 2500 V
C x 4 s C x 4 s
= 0,03 U )
dist n
4s
40 s
4 s
80 s
4 s
90 s
16 s
120 s
5000 V
C x 7 s
M 
1