Mesure D'échantillons - X-Rite Ci6 Série Guide De L'utilisateur

Mesure d'échantillons
L'instrument peut prendre des mesures à partir de toute surface propre, sèche, et relativement
plate et lisse. La semelle de l'instrument doit reposer à plat et de manière stable sur la zone de
l'échantillon à mesurer. Si l'élément à mesurer est plus petit que la semelle, vous pouvez créer
une plate-forme (de même hauteur que l'élément) pour faire reposer le reste de la semelle de
l'instrument.
Procédure :
1. Nettoyez la surface de l'échantillon afin de la débarrasser de toute saleté, poussière et
moisissure.
2. Positionnez la fenêtre de visée sur l'échantillon à mesurer. Placez si possible l'instrument en
entier sur l'échantillon.
3. Appuyez fermement sur l'instrument pour le faire entrer en contact avec sa semelle, puis
maintenez-le dans cette position jusqu'à ce que l'écran indique que la mesure est terminée.
4. Relâchez l'instrument et passez en revue les résultats de la mesure.
Si une mesure n'aboutit pas, un message d'erreur s'affiche. Pour plus d'informations,
reportez-vous à la section Dépannage.
S P E C T R O P H O T O M È T R E D E L A S É R I E C I 6 X
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