910‐269‐FR, Rév. A, Juin 2009
Figure 17‐25 Grande porte avec interférence de deux échos
Les appareils de la série EPOCH
et/ou la largeur de la porte 1 lors de l'acquisition des données pendant l'étalonnage.
Cela permet le réglage d'une porte étroite pour mesurer l'amplitude et l'épaisseur du
réflecteur étalon choisi dans un sous‐ensemble de lois focales, et puis de repositionner
la porte pour l'acquisition d'autres mesures d'amplitude et d'épaisseur pour le même
réflecteur dans un autre sous‐ensemble de lois focales.
312 Chapitre 17
™
1000 permettent de régler la position de départ