Chapitre 4
Fonctionnalités du module de diagnostic
Tableau 9 - Scénarios de défaut au niveau des points du module 1756-OA8D
La logique à relais commande à la sortie d'être à
l'état activé
1. L' é cho des données de sortie renvoie l' é tat de la sortie
comme étant désactivé.
2. Le bit Fusible grillé est vrai.
1. L' é cho des données de sortie renvoie l' é tat de la sortie
comme étant activé.
(1)
2. Échec du test par impulsion.
1. L' é cho des données de sortie renvoie l' é tat de la sortie
comme étant désactivé.
2. Le bit Aucune charge présente un défaut.
3. La perte d'alimentation de terrain présente un défaut.
4. Échec du test par impulsion.
1. L' é cho des données de sortie renvoie l' é tat de la sortie
(2)
comme étant activé.
2. Le bit de vérification de sortie est vrai.
(1) Quand le test par impulsion est exécuté, il est normal de voir une pulsation momentanée sur l'afficheur du module.
(2) La sortie ne peut pas passer à l'état activé en raison d'un dommage matériel du point.
(3) Selon les caractéristiques du court-circuit appliqué, un défaut de vérification de sortie pourrait être vrai jusqu'à ce que le court-circuit soit détecté par le module et la sortie désactivée.
(4) Il n' e st pas possible de créer un défaut de fusible grillé à l' é tat désactivé. Si un court-circuit se produit, le point de sortie est désactivé et le défaut apparaît à l' é tat désactivé jusqu'à ce que le point
soit réinitialisé.
(5) Dans des conditions de fonctionnement normal, un dommage matériel n' e st pas possible. Une sortie court-circuitée sur L2 peut provoquer temporairement un défaut matériel du point. Considérez
la sortie court-circuitée sur L2 comme une cause potentielle.
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Modules 8 points c.a./16 points c.c.
Les modules d'E/S de diagnostic proposent plusieurs groupements de points
sur différents modules. Les modules 8 points c.a. et les modules 16 points c.c.
offrent plus de souplesse lors de la conception d'applications avec modules.
Un plus grand nombre de points permet de raccorder davantage de dispositifs
de terrain aux modules d'E/S afin d'augmenter l'efficacité.
Rapport de défaut au niveau des points
Les modules d'E/S de diagnostic mettent à 1 des bits afin d'indiquer à quel
moment un défaut s'est produit, point par point. Les conditions de défaut
suivantes génèrent leurs propres bits de défaut uniques.
Tableau 8 - Bits de défaut uniques pour les points d'E/S
Points d'entrée
Les conditions suivantes peuvent mettre à 1 un bit de
défaut pour un point d' e ntrée :
• Fil coupé
• Perte d'alimentation de terrain (1756-IA8D
uniquement)
L'utilisation de ces bits avec l'écho des données et la réalisation manuelle d'un
test par impulsion peuvent aider à isoler le défaut. Le
défauts de diagnostic possibles sur le module 1756-OB16D.
La logique à relais commande à la sortie d' ê tre à
l' é tat désactivé
1. L' é cho des données de sortie renvoie l' é tat de la sortie
comme étant désactivé.
2. Échec du test par impulsion.
1. L' é cho des données de sortie renvoie l' é tat de la sortie
comme étant désactivé.
2. Le bit Aucune charge est désactivé.
1. L' é cho des données de sortie renvoie l' é tat de la sortie
comme étant désactivé.
2. Le bit Aucune charge est vrai.
3. La perte d'alimentation de terrain est vraie.
4. Échec du test par impulsion.
1. L' é cho des données renvoie l' é tat de la sortie comme
étant désactivé.
(3)
2. Échec du test par impulsion.
Publication Rockwell Automation 1756-UM058H-FR-P - Mai 2015
Points de sortie
Les conditions suivantes peuvent mettre à 1 un bit de
défaut pour un point de sortie :
• Fusible grillé
• Absence de charge
• Vérification de sortie
• Perte d'alimentation de terrain (1756-IA8D
uniquement)
Origine possible du défaut
La sortie est court-circuitée sur L2.
(4)
Aucune charge ou la sortie est court-circuitée sur L1.
L1 ou L2 est déconnecté ou hors de la plage de
fréquences de 47 à 63 Hz.
Dommage matériel du point.
Tableau 9
répertorie les
(5)