Fonction D'entrée De Test - Panasonic SQ4-C11 Manuel D'instructions

3-3 Fonction d'entrée de test
,O V DJLW GH OD IRQFWLRQ GH YpUL¿FDWLRQ GX ERQ IRQFWLRQQHPHQW 21  2)) GHV VRUWLHV GH FRQWU{OH
1 / 2 (OSSD 1 / 2) du contrôleur sans génération d'un état de fuite de liquide au niveau du capteur.
Lorsque la borne d'entrée de test entre T1 et T2 est ouverte, un fonctionnement valide peut être
sélectionné et quand il est court-circuité, un fonctionnement invalide (fonctionnement normal)
peut être sélectionné.
8WLOLVH] XQ FRQGXFWHXU FRQWDFW ¿O GH FXLYUH HWF SRXU FUpHU OH FRXUWFLUFXLW 8Q VHPLFRQGXF-
teur (transistor) etc., ne pourrait ne pas assurer le fonctionnement normal.
7HPSV GH UpSRQVH SRXU OD VpOHFWLRQ GH UpLQLWLDOLVDWLRQ PDQXHOOH!
Ouvert
Réinitialisa-
tion d'entrée
Court-
circuit
ON
Entrée de test
OFF
Sortie de
ON
contrôle 1 / 2
OFF
(OSSD 1 / 2)
7HPSV GH UpSRQVH SRXU OD VpOHFWLRQ GH UpLQLWLDOLVDWLRQ DXWRPDWLTXH!
ON
Entrée de test
OFF
30ms minimum
Sortie de
ON
contrôle 1 / 2
OFF
(OSSD 1 / 2)
© Panasonic Electric Works SUNX Co., Ltd. 2011 MF-SQ4-C11 No.02
30ms minimum
50ms maxi.
50ms maxi.
140ms maxi.
N'utilisez pas la fonction d'entrée de test dans le but d'arrêter la machine où ce
dispositif est monté. Dans le cas contraire, la mort ou des blessures peuvent sur-
venir.
140ms maxi.
Fonctions
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