Sélection D'échantillons; Procédure De Mesure Recommandée; Échantillons Non Optimaux - X-Rite PANTONE RM200QC Manuel De L'utilisateur

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Sélection d'échantillons
L'instrument RM200QC est unique dans le sens où il a été conçu pour mesurer une grande variété
d'échantillons, sans limitations en termes de taille minimale ou de texture en surface. RM200QC
s'appuie sur le principe de l'impression conforme à la visualisation (« WYSIWYG »).
Grâce à la technologie de prise de vue avancée de X-Rite et à l'éclairage LED directionnel à la pointe du
progrès, l'instrument peut effectuer les tâches suivantes :
• Compenser les irrégularités en surface grâce à un algorithme d'aplanissement de la surface,
ce qui vous permet de comparer des mesures d'échantillons texturés.
• Mesurer des zones d'échantillons au format Petit (4 mm) et Large (8 mm).
Procédure de mesure recommandée
L'instrument est conçu pour mesurer des échantillons secs et opaques. Vous pouvez placer les
échantillons horizontalement (sur une table), verticalement ou en biais. Pour obtenir une
mesure précise, assurez-vous de poser l'instrument bien à plat sur l'échantillon et de maintenir
l'instrument immobile pendant la mesure.
Échantillon arrondi ou irrégulier : si la surface de l'échantillon est arrondie ou irrégulière,
utilisez l'option Moyenne (voir la section correspondante dans le menu Paramètres). Cette
option vous permet de prendre plusieurs mesures d'un même échantillon afin de calculer une
valeur moyenne.
Échantillon mince ou transparent : si l'échantillon est mince, placez-le sur une surface plate
avant de prendre une mesure. Si l'échantillon n'est pas opaque, placez-le sur un support blanc
(papier blanc) avant de prendre une mesure.
Échantillons non optimaux
Il est difficile voire impossible d'obtenir des mesures précises à partir d'échantillons
anormalement brillants (par exemple s'ils contiennent des pigments fluorescents).
RM200QC - Manuel de l'utilisateur
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