Mesure D'échantillons - X-Rite 500 Série Manuel De L'utilisateur

Mode
Cette option vous permet de choisir entre Absolu
et - Papier.
Pour définir les options, procédez comme suit :
1. Dans le menu Options EFS, utilisez les touches
Tab $@ pour mettre en surbrillance Cfg surim,
Cfg rf 3 ou Mode.
2. Appuyez sur Entrée # pour accéder à l'éditeur.
3. Utilisez les touches Tab $@ pour mettre en
surbrillance le paramètre choisi.
4. Appuyez sur Entrée # pour enregistrer.
5. Répétez les étapes 1 à 4 pour apporter d'autres
modifications.
6. Quand vous avez terminé, appuyez sur
Échappement ! pour retourner au menu EFS.
REMARQUE : Vos modifications seront prises en compte en
appuyant sur Entrée # pour quitter chaque éditeur.
Mesure d'échantillons
Pour assurer la reconnaissance automatique et un calcul
optimal des échantillons en mode EFS, l'instrument doit
comporter des valeurs pour le papier et les aplats VCMY.
Pour mesurer des échantillons de Densité, Point,
Contraste, Trapping et T/G en mode EFS, procédez
comme suit :
1. Centrez l'œil cible de l'instrument sur l'échantillon
de papier. Abaissez le corps de l'instrument contre la
semelle et maintenez l'unité fermée. Une fois les
données de la mesure affichées, relâchez
l'instrument.
Point ou Contraste d'Impression (CI)
2.
Mesurez les aplats VCMY et les tramés
correspondants. Pour le Point, les données
apparaissent comme valeurs de pourcentage de point
ou d'engraissement (voir la fonction Point).
Trapping ou Teinte/Gris (T/G)
Mesurez la surimpression. Pour le Trapping,
F O N C T I O N S D E L ' I N S T R U M E N T
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