Commande Et Mesure De L'exposition; Méthodes De Mesure De L'exposition - Leica X Notice D'utilisation

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COMMANDE ET MESURE DE L'EXPOSITION

Méthodes de mesure de l'exposition
Pour une adaptation aux conditions de luminosité, à la situation ou à
votre méthode de travail et de composition d'image, le Leica X
propose trois méthodes de mesure de l'exposition:
Sélectionnez l'option désirée dans le menu
dans le sous-menu
Mesure à champs multiples -
Avec cette méthode de mesure, l'appareil photo analyse automatique-
ment les variations de luminosité dans le sujet et détermine la
situation probable du sujet principal et l'exposition optimale
correspondante par une comparaison avec les schémas de réparti-
tion de la luminosité programmés.
Cette méthode est particulièrement adaptée à une photographie
spontanée, simple et néanmoins sûre, même dans des conditions
difficiles, et utilisable en association avec l'automatisme programmé.
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et
Mode d'Exposition
Mesure centrale pondérée -
Cette méthode de mesure pondère principalement le centre du
champ de l'image, tout en englobant toutes les autres zones.
Elle permet une définition de l'exposition ciblée sur certaines parties
du sujet tout en tenant compte de l'ensemble du champ de l'image,
ainsi que la mémorisation de la valeur de mesure.
Mesure spot -
Cette méthode de mesure est exclusivement concentrée sur une
minuscule zone au centre de l'image, indiquée par un point vert à
l'écran. Elle permet une mesure exacte des plus petits détails pour
une exposition précise, de préférence en association avec un réglage
manuel.
Sur des prises de vue à contre-jour, par exemple, il convient
généralement d'éviter qu'un environnement clair entraîne une
sous-exposition du sujet principal. Grâce au champ de mesure
nettement plus petit de la mesure spot, vous pouvez également
évaluer ces détails du sujet de manière ciblée.