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Chapitre 5 Messages d'erreur
Erreurs lors d'un test automatique
Erreurs lors d'un test automatique
Les erreurs suivantes indiquent les pannes qui peuvent se produire
pendant un autotest. Pour plus de détails, reportez-vous au guide de
maintenance (Agilent 33210A Service Guide).
Self-test failed; system logic
Cette erreur indique une panne du processeur principal, de la RAM
système ou de la ROM système.
Self-test failed; waveform logic
Cette erreur indique que la logique de signal dans le circuit de synthèse
est défectueuse.
Self-test failed; waveform memory bank
Cette erreur indique que la RAM de signal ou le circuit de synthèse est
défectueux.
Self-test failed; modulation memory bank
Cette erreur indique que la banque mémoire de modulation dans le
circuit de synthèse est défectueuse.
Self-test failed; cross-isolation interface
Cette erreur indique que l'interface d'isolement croisé entre le processeur
principal et le circuit de synthèse est défectueuse, ou que le circuit de
synthèse lui-même est défectueux.
Self-test failed; pulse phase locked loop
Cette erreur indique qu'une boucle de verrouillage de phase dans le
synthétiseur de signal d'impulsions n'est pas correctement verrouillée et
que la fréquence des signaux d'impulsions (et eux seuls) peut ne pas être
correcte. Indique une panne du circuit de synthèse ou des circuits
associés.
619: Self-test failed; leading edge DAC
620: Self-test failed; trailing edge DAC
621: Self-test failed; square-wave threshold DAC
623: Self-test failed; dc offset DAC
624: Self-test failed; null DAC
625: Self-test failed; amplitude DAC
Ces erreurs indiquent un dysfonctionnement du convertisseur
numérique-analogique (CNA) système, une panne des canaux du
multiplexeur CNA ou des circuits connexes.
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