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CONDITIONS FAUTIVES ET PROCÉDURES
DE TEST AUTOMATIQUE
Note
Les conditions fautives suivantes devraient être détectées par
le logiciel:
• Erreur de la mémoire EEPROM;
• défaillance du bus interne I2C;
• perte de la date;
• boucle de disfonctionnement de code.
Les erreurs de la mémoire EEPROM peuvent être détectées
par la procédure de test automatique à la mise en marche de
l'appareil ou par l'utilisateur à partir du
menu de réglage.
Lorsqu'une erreur de mémoire est détectée,
l'utilisateur peut effectuer un redémarrage
de la mémoire EEPROM.
Lorsqu'un redémarrage de la mémoire est effectué, les données
d'étalonnage sont remises par défaut (toutes les gammes).
Un CAL clignotera à l'écran pour aviser l'utilisateur du statut
de l'appareil.
Une défaillance du bus interne I2C est détecté lorsque la
transmission 12C n'est pas reconnue ou une erreur du bus
apparaît après un certain nombre de tentatives (ceci peut
être dû, par exemple, par un des ICs connectés au bus 12C).
Dans ce cas, l'instrument arrête toutes les tâches et affiche le
message déroulant "Serial bus error" (erreur fatale).
Si une date invalide est lue à partir du RTC (horloge en temps
réel), l'appareil revient à la date et à l'heure par défaut
(01/01/98 - 00:00).
La détection d'erreur pour les boucles de disfonctionnement
est effectuée par le système de surveillance (voir plus bas).
Utiliser des codes de réglage spéciaux pour effectuer les
procédures de test automatique pour l'écran, le clavier, la
mémoire EEPROM, les relais et les DELs, le système de
surveillance. Ces fonctions sont décrites dans la section de
réglage. Les procédures de test automatique sont décrites en
détail dans les sous-sections suivantes:
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