Temps de réaction
B.2 Paramètres de temps de réaction pour les entrées F-DI 4/F-DQ 2
B.2
Paramètres de temps de réaction pour les entrées F-DI 4/F-DQ 2
Temps de réaction d'acquittement de l'appareil max. des entrées du module F-DI 4/F-DQ 2 de
sécurité
Exploitation 1oo1 :
T
WCDT_i
T
OFDT_i
Exploitation 1oo2 :
T
WCDT_i
T
OFDT_i
Avec :
T
Temps de cycle interne du module de sécurité
cycle
T
Temps de discordance
dis
•
Temps de discordance configuré pour les voies 1oo2 qui passent de "0" à "1"
•
Temps de discordance configuré pour les voies 1oo2 qui passent de "1" à "0" et l'option "Supply last
valid value" (Délivrer dernière valeur valide) configurée pour le comportement de discordance
•
"0" pour les voies 1oo2 qui passent de "1" à "0" et l'option "Supply value 0" (Délivrer valeur 0)
configurée pour le comportement de discordance
Vous devez inclure le temps de discordance attendu entre vos entrées de capteur dans votre retard de
capteur externe. Le T
les entrées TOR du module de sécurité peuvent passiver la voie en raison d'une extension du temps de
discordance en cas de défaut.
Ce paramètre peut être indiqué séparément dans le RT_calculator. N'incluez pas T
T
OFDT_i
T
Temps "Input filters" (Filtres d'entrée) pour la voie
filter
T
Temps de retard en présence d'un défaut : Temps de réaction maximum pour que l'entrée TOR du module
OFDT_i
de sécurité signale qu'une voie est passivée
T
Temporisation pour la durée du défaut de court-circuit :
scf
•
Intervalle du test de court-circuit configuré lors d'un fonctionnement en mode à forte sollicitation ou
continu et en fonction du test de court-circuit pour atteindre votre niveau requis d'intégrité de sécurité
•
"0" lorsque le test de court-circuit n'est pas essentiel pour atteindre votre niveau d'intégrité de sécurité
T
Temporisation pour la durée du test de court-circuit :
sct
•
"0" si aucun test de court-circuit n'est configuré
•
"0" pour les voies 1oo2 qui passent de "1" à "0" et l'option "Supply value 0" (Délivrer valeur 0)
configurée pour le comportement de discordance
•
"Duration of short-circuit test" (Durée du test de court-circuit) + temps de "Input filters" (Filtres
d'entrée) si un test de court-circuit est configuré
(confirmation : les filtres d'entrée peuvent se produire deux fois en équation pour le T
court-circuit est configuré.)
T
Temps de retard dans le pire cas : Temps de réaction maximum d'une transition de signal sur l'entrée TOR
WCDT_i
jusqu'à la disponibilité fiable du télégramme de sécurité pour la requête de la CPU de sécurité
96
= T
+ T
+ 2 x T
filter
sct
cycle
= T
+ T
WCDT_i
scf
= T
+ T
+ 2 x T
filter
sct
cycle
= T
+ MAX (T
T
WCDT_i
scf,
dis
que vous avez configuré contribue au T
dis
que vous entrez dans le RT_calculator si vous entrez T
Module d'entrées/sorties TOR F-DI 4+F-DQ 2x24VDC/2A, 4xM12 (6ES7146-5FF00-0BA0)
)
en tant que retard pendant lequel
OFDT_i
dans la valeur de
dis
comme élément séparé.
dis
WCDT_i
Manuel, V1.0, 03/2022, A5E51082347-AB
si un test de