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■ Sous-écrans de l'écran de configuration des conditions
CONSEIL
• Pour plus d'informations concernant la configuration des conditions de mesure,
consultez le "Chapitre 7 MODIFICATION DES CONDITIONS DE MESURE ET
CONDITIONS D'ÉVALUATION" (Page 7-1).
Écran de configuration des conditions (conditions d'évaluation)
d'échantillonnage
d'onde
N° 99MBB465F
2. GENERALITES SUR LES FONCTIONS ET TOUCHES DU SJ-410
Arborescence des écrans
Écran de configuration de la norme de rugosité
Écran de configuration du profil d'évaluation
Écran de configuration des paramètres
Écran de configuration du filtre
Écran de paramétrage de la valeur de cut-off (λc)
Écran de configuration de la valeur de cut-off (λs)
Écran de configuration du nombre de longueurs
Écran de configuration de la longueur arbitraire
Écran de configuration des pré/post-courses
Écran de configuration de la suppression de la forme
Écran de configuration du cut-off intérieur
Écran de configuration du cut-off extérieur
Écran de configuration de la compensation de profil
Écran de configuration du traitement de la ligne moyenne
Section
－
7.3.1 (Page 7-6)
7.3.2 (Page 7-7)
7.3.2 (Page 7-22)
7.3.4 (page 7-23)
7.3.2 (page 7-7)
7.3.5 (page 7-25)
7.3.5 (page 7-25)
7.3.7 (page 7-30)
7.3.8 (page 7-31)
7.3.9 (page 7-36)
7.3.10 (page 7-47)
2-15
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