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Écran
de
configuration
d'évaluation
Écran
du
menu
des
d'évaluation
7.3.2.2
Modification de la longueur d'échantillonnage (L)/longueur de cut-off (λs)
du profil brut P
Lorsque le profil brut (P) est sélectionné, la longueur d'échantillonnage (L) et la longueur
de cut-off (λs) s'affichent sur l'écran de configuration des conditions d'évaluation en tant
que paramètres variables relatifs à l'évaluation. Modifiez les longueurs d'échantillonnage
(L) et de cut-off (λs) si nécessaire.
■ Relation entre les longueurs d'échantillonnage (L) et la longueur de cut-off (λs)
Lorsqu'une longueur d'échantillonnage (L) est définie, la longueur de cut-off (λs) est
paramétrée
Le symbole utilisé pour représenter la longueur d'échantillonnage de la mesure varie en
fonction de la norme de rugosité spécifiée. Lorsque la norme de rugosité sélectionnée est
"JIS2001", "ISO1997", "VDA" ou "Free" (Libre), le symbole "ℓp" est affiché. Lorsque la
norme de rugosité "JIS1982" a été sélectionnée, le symbole "ℓ" est affiché.
Longueur
d'échantillonnage
de la mesure (L)
7-8
du
profil
2
Appuyez sur le profil d'évaluation à utiliser, puis sur
conditions
sur
0,08 mm
2,5 μm, 8 μm, 25 μm, (AUCUNE）
2,5 μm, 8 μm, 25 μm, (AUCUNE）
0,25 mm
2,5 μm, 8 μm, 25 μm, (AUCUNE）
0,8 mm
2,5 mm
2,5 μm, 8 μm, 25 μm, (AUCUNE）
2,5 μm, 8 μm, 25 μm, (AUCUNE）
8 mm
2,5 μm, 8 μm, 25 μm, (AUCUNE）
25 mm
Le profil d'évaluation sélectionné s'affiche sur l'écran du
menu des conditions d'évaluation.
l'une
des
valeurs
Longueur de cut-off (λs)
.
mentionnées
ci-dessous.
N° 99MBB465F
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