Table des Matières
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7.3.5
Modification du nombre de longueurs d'échantillonnage
Le SJ-410 permet de définir la longueur d'évaluation (valeur de cut-off x nombre de
longueurs d'échantillonnage) en spécifiant un nombre de longueurs d'échantillonnage
entre 1 et 20 ou à partir d'une longueur arbitraire ("Longueur opt."). Lorsque "Opt Length"
(Longueur opt.) est sélectionné pour le nombre de longueurs d'échantillonnage, la
longueur d'évaluation peut être définie sur une longueur arbitraire.
REMARQUE
• Lorsque le profil d'évaluation est paramétré sur "R-Motif" (Motif R) ou "W-Motif" (Motif
W), le nombre de longueurs d'échantillonnage ne peut être spécifié.
■ Profils d'évaluation et nombre de longueurs d'échantillonnage
En cas de modification du profil d'évaluation, les valeurs initiales suivantes sont
appliquées concernant le nombre de longueurs d'échantillonnage. Ces valeurs peuvent
être modifiées si besoin.
Profils d'évaluation
REMARQUE
• Lorsque "Opt Length" (Longueur opt.) est sélectionné, la longueur d'évaluation peut
être
"7.3.6 Définition d'une longueur d'évaluation arbitraire" (page 7-27).
• Lorsque l'évaluation OK/H.T. est basée sur la règle des 16 %, un minimum de
7 longueurs d'échantillonnage est requis. Si le nombre de longueurs d'échantillonnage
sélectionné est 6 ou moins, le résultat sera le même que selon la règle Max.
N° 99MBB465F
7. MODIFICATION DES CONDITIONS DE MESURE ET D'ÉVALUATION
Nombre de longueurs
P
1/spécifiez une longueur
R
DF
Motif R
Spécifiez une longueur
Motif W
Spécifiez une longueur
W
définie
sur
une
d'échantillonnage
arbitraire
5
5
arbitraire
arbitraire
5
longueur
arbitraire.
For
details,
refer
7-25
to
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