Table des Matières
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Pour choisir une option de mesure, appuyez sur la commande
W (Z) et tournez la molette de commande principale jusqu'à
l'apparition du réglage souhaité.
Commande
W (Z)
A
Visée écran
En visée écran, l'option sélectionnée s'affiche sur le moniteur.
A
Mesure pondérée sur les hautes lumières
La mesure pondérée centrale peut être utilisée si la mesure pondérée sur
les hautes lumières est sélectionnée avec certains objectifs à
microprocesseur (pour les objectifs NIKKOR AI-P et AF n'étant pas de type G,
E, ou D ; 0 280).
A
Informations complémentaires
Pour en savoir plus sur :
• l'utilisation de la détection des visages en mode de mesure matricielle,
reportez-vous à A > Réglage personnalisé b4 (Mesure matricielle,
0 262).
• la manière de modifier certains réglages afin d'obtenir une exposition
optimale avec chaque méthode de mesure, reportez-vous à A > Réglage
personnalisé b6 (Réglage précis expo. opti., 0 262).
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Molette de
commande
principale
Écran de contrôle
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