Publicité
Français
3.12 T E S T DE DIS P OS IT IF S DIF F É R E NT IE L S À C OUR ANT R É S IDUE L P OR T AB L E S (DDR
P OR T AB L E )
T emps de déc lenc hement des dis pos itifs à c ourant rés iduel portables
Plage
0 ms ÷ 300 ms (½×I
)
∆ N
0 ms ÷ 300 ms (I
)
∆ N
0 ms ÷ 40 ms (5×I
)
∆ N
Courant de test (I
) :
∆Ν
Multiplicateurs du courant de test :
Phase de démarrage :
Mode de test :
L imites de réus s ite / éc hec
½ x I
∆ N
t
> 300 ms
∆
C onnexion à utilis er
Test de dispositifs à courant résiduel portables
3.13 T E S T DE DIS P OS IT IF S DIF F É R E NT IE L S À C OUR ANT R É S IDUE L (DDR )
3.13.1 Caractéristiques générales
Courant résiduel nominal [mA] :
Options des courants de test :
Incertitudes des courants de test :
Forme des courants de test :
Décalage en courant continu pour courant pulsé : 6 mA (valeur nominale)
Type de DDR :
Phase de démarrage du courant de test : 0 º ou 180 º
Plage de tension :
C onnexion à utilis er
Test de dispositifs à courant résiduel (DDR)
S élec tion des c ourants de tes t des DDR (valeur effic ac e c alc ulée à 20 ms ) s elon la norme C E I 61009
I
x 1/2
∆ N
I
(mA)
CA
A
∆ N
10
5
3.5
30
15
10.5
100
50
35
300
150
105
500
250
175
1000
500
350
n. a.
non applicable
Type CA
Courant de test sinusoïdal
Type A
Courant pulsé
Résolution
1 ms
1 ms
1 ms
10 mA, 15 mA, 30 mA
½×I
, I
, 5×I
∆ N
∆Ν
0°, 180°, les deux
Unitaire, automatique
I
∆ N
t
> 300 ms
∆
10, 30, 100, 300, 500, 1000
0,5 x I
, I
∆ N
-0 / +0,.1×I
-0,1 x I
/ +0; I
∆
Sinusoïdale (CA), pulsée (A)
G (non retardé), S (retardé)
50 V ÷ 264 V (45 Hz ÷ 65 Hz)
I
x 1
I
x 2
∆ N
∆ N
CA
A
CA
A
10
20
20
40
30
42
60
84
100
141
200
282
300
424
600
848
500
707
1000
1410
1000
1410
2000
n. a.
Contrôleur d'appareillages multifonction C.A 6155
Incertitudes
± 3 ms
∆Ν
5 x I
∆ N
t
> 40 ms
∆
Prises de test TP1
, 2 x I
, 5 x I
∆ N
∆ N
∆ N
; I
= I
, 2 x I
, 5 x I
∆ N
∆ N
∆ N
∆
∆
= 0.5 x I
∆ N
∆
Prise secteur de test TP1
I
x 5
DDR I
∆ N
CA
A
CA
50
100
150
212
500
707
1500
n. a.
2500
n. a.
n. a.
n. a.
19
∆
A
Publicité
