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Mesure et contrôle de l'exposition
Méthodes de mesure de l'exposition
Le LEICA X1 vous propose 3 méthodes de mesure de l'exposition différentes.
Elles permettent de s'adapter à la luminosité ambiante, à la situation ainsi
qu'à vos habitudes de travail et à vos besoins personnels.
Dans le menu, sélectionnez Mode de mesure (3.4), puis dans le sous-menu,
le réglage souhaité.
Mesure sur plusieurs champs –
Avec cette méthode de mesure, l'appareil photo analyse par lui-même la dif-
férence de luminosité sur le sujet et applique le modèle de répartition de la
luminosité programmé sur la situation probable du sujet principal. Il choisit
également la meilleure exposition correspondante.
Cette méthode s'adapte donc particulièrement bien aux prises de vues spon-
tanées peu élaborées mais sûres, même lorsque les conditions sont diffi-
ciles, ainsi qu'à une utilisation conjointement avec le mode Programmation
automatique (voir page 169).
Mesure pondérée –
Cette méthode de mesure pondère au maximum la partie centrale du champ
de l'image tout en prenant également en compte les autres zones de l'image.
Elle permet, en particulier avec la fonction de mémorisation de la valeur de
mesure (voir page 172), un ajustement précis de l'exposition sur des parties
spécifiques du sujet tout en prenant en compte de l'ensemble du champ de
l'image.
.
Mesure Spot –
Ce mode est exclusivement concentré sur une petite zone au milieu de
l'image, représentée par un point vert (2.1.10) sur l'écran.
Elle permet une mesure précise des plus petits détails afin d'obtenir une ex-
position précise – de préférence en connexion à un réglage manuel (voir
page 171) .
Pour les prises de vues à contre-jour, par exemple, il convient généralement
d'éviter que l'environnement plus sombre entraîne une sous-exposition du
sujet principal. Le champ de mesure nettement plus petit de la mesure spot
permet de cibler de tels détails.
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