Golflengten:
SLO: 532 nm, 635 nm
SLD midden golflengte: 840 nm ±10 nm
Resolutie:
Doorsnee axiale resolutie: <10 micron, digitaal op het scherm <6 micron
Transverse resolutie: 20 micron (in weefsel)
opto map plus: 14 micron
4.2.1 Waarschuwingsinformatie externe laser
Locatie laserwaarschuwing
Geplaatst op de achterzijde
van de scankopkap.
4.2.2 Waarschuwingsinformatie interne laser
Locatie laserwaarschuwing
Geplaatst binnen in de
achterzijde van het apparaat.
Geplaatst op de straalkap.
Geplaatst op de SLD-kap
4.3 Elektromagnetische compatibiliteit (EMC)
De P200TE is bedoeld voor gebruik in de elektromagnetische omgeving zoals aangegeven in de volgende
tabellen. De klant of de gebruiker van het apparaat moet ervoor zorgen dat het apparaat in een dergelijke
omgeving wordt gebruikt.
4.3.1 Informatie en verklaring van producent – elektromagnetische
emissie
TABEL 13: Lijst conformiteit elektromagnetische emissie
Emissietest
RF-emissie
CISPR 11
Artikelnummer: G108707/8GWE
Copyright 2018, Optos plc. Alle rechten voorbehouden.
Waarschuwingsinformatie
Waarschuwingsinformatie
CAUTION - CLASS 3B LASER RADIATION
WHEN OPEN AVOID DIRECT EYE EXPOSURE
VISIBLE AND INVISIBLE LASER RADIATION
AVOID DIRECT EXPOSURE TO BEAM
WARNING - LASER RADIATION
IEC60601
conformiteit
Informatie elektromagnetische omgeving
testniveau
De P200TE gebruikt RF-energie uitsluitend voor interne
functies. Daardoor is de RF-emissie zeer laag en veroorzaakt
Groep 1
die vrijwel
nabije omgeving.
Hoofdstuk 4 - Technische specificaties
KLASSE 1-LASERAPPARAAT
CLASS 3B LASER PRODUCT
AVOID EXPOSURE TO BEAM
CLASS 3B LASER PRODUCT
interferentie in elektronische apparatuur in de
NOOIT
Pagina 73 van 82
Nederlands (Dutch)