Table des Matières
Publicité
1 Vue d'ensemble
1.3.5 Tête conductrice
Tuyau de conduite
de gaz
Tige conductrice
(ajustable)
1.3.6 Rack échantillons
Attention!
Les récipients échantillons se trouvant sur le rack, peu-
vent être brûlants s'ils viennent juste d'être traités (tempé-
rature supérieure à 200°C !)
6
Sondes
infrarouges
Position spéciale 1 (pour récipient de conditionnement)
Poignée
Encoches pour
chevilles de guidage
Tuyau de transfert chauffant
(chauffage de sortie)
Adaptateur d'aiguille
en PEEK
Aiguille vide avec
connecteur Luer
(air usé)
Aiguille vide
(aiguille de perforation)
La tour de l'Oven Sample Proces-
sors 774 est équipée de sondes bé-
chers, qui détectent la présence
d'un récipient échantillon, avant la
tour. Ce "test bécher " est effectué
après chaque instruction MOVE.
Le rack échantillons amovible offre la
place pour 35 récipients échantillons
et un récipient de conditionnement.
Grâce à un système d'arrêtage, le
fond du rack est bloqué, lorsque le
rack est retiré; on évite ainsi toute
chute de récipients échantillons. Lors
du positionnement du rack, le système
de blocage est désactivé, de façon à
permettre une rotation de la partie
supérieure du rack comportant les
récipients échantillons.
Le rack ne peut être échangé que
lorsqu'il se trouve en position de sortie
(évidement devant la tour). Le rack
échantillons est placé en position de
sortie par pression de la touche
<RACK>.
Lors de l'installation du rack, prendre
garde à ce que ce dernier soit correc-
tement positionné. Les chevilles de
guidage du plateau rotatif doivent se
caler dans les évidements du rack
échantillons prévus à cet effet.
L'évidement du rack doit encercler le
bloc de chauffage.
774 Oven Sample Processor, Mode d'emploi
Publicité
Table des Matières
