Non Reproductibilité; Effet De La Tension D'alimentation; Effet De La Température Ambiante (Dérive De Température); Effet Du Point De Référence (Point De Référence Interne) - Endress+Hauser iTEMP TMT82 Information Technique

Transmetteur de température en tête de sonde 2 voies avec protocole hart
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Non reproductibilité
Effet de la tension
d'alimentation
Stabilité à long terme
Effet de la température
ambiante (dérive de
température)
Effet du point de référence
(point de référence interne)
8
Entrée
10...400 W
10...2 000 W
–20...100 mV
Sortie
£ 2 mA
≤ ±0,0025%/V, rapporté à l'étendue de mesure
≤ 0,1 °C/an (≤ 0,18 °F/an) ou ≤ 0,05%/an
Indications sous conditions de référence. Les pourcentages se rapportent à l'étendue de mesure réglée. La plus
grande valeur l'emporte.
Dérive de température totale = dérive de température d'entrée + dérive de température de sortie
Effet sur la précision en cas de modification de la température ambiante de 1 K (1,8 °F) :
Entrée 10...400 W
Entrée 10...2000 W
Entrée –20...100 mV
Sortie 4...20 mA
Sensibilités typiques de thermorésistances
Pt : 0,00385 * R
/K
nom
Exemple Pt100 : 0,00385 * 100 W/K = 0,385 W/K
Sensibilités typiques de thermocouples :
B : 9 µV/K pour
C : 18 µV/K pour
1000 °C (1832 °F)
1000 °C (1832 °F)
L : 60 µV/K pour
N : 38 µV/K pour
500 °C (932 °F)
500 °C (932 °F)
Exemple de calcul de l'écart de mesure en cas de dérive de la température ambiante :
Dérive de la température d'entrée DJ = 10 K (18 °F), Pt100, gamme de mesure 0 à 100 °C (32 à 212 °F).
Température de process maximale : 100 °C (212 °F)
Valeur de résistance mesurée : 138,5 W (CEI 60751) pour température de process maximale
Dérive de température typique en W : (0,001% de 138,5 W) * 10 = 0,01385 W
Conversion en Kelvin : 0,01385 W / 0,385 W/K = 0,04 K (0,054 °F)
Pt100 DIN CEI 60751 Cl. B (point de comparaison interne pour thermocouples TC)
15 mW
100 ppm * valeur mesurée
4 mV
typ. 0,001% de la valeur mesurée, min. 1 mW
typ. 0,001% de la valeur mesurée, min. 10 mW
typ. 0,001% de la valeur mesurée, min. 0,2 µV
typ. 0,0015% de l'étendue de mesure
Cu : 0,0043 * R
/K
nom
D : 20 µV/K pour
E : 81 µV/K pour
1000 °C (1832 °F)
500 °C (932 °F)
R : 13 µV/K pour
S : 11 µV/K pour
1000 °C (1832 °F)
1000 °C (1832 °F)
iTEMP
®
TMT82
Ni : 0,00617 * R
/K
nom
J : 56 µV/K pour
K : 43 µV/K pour
500 °C (932 °F)
500 °C (932 °F)
T : 46 µV/K pour
U : 70 µV/K pour
100 °C (212 °F)
500 °C (932 °F)
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