X84; Fonction De Rejet High-Z (Détection Des Erreurs De Contact Pendant La Mesure À 2 Bornes) - Hioki IM3536 Manuel D'instructions

Fonction de rejet High-Z (détection des erreurs de contact pendant la
mesure à 2 bornes)
Cette fonctionnalité génère une erreur lorsque les résultats de la mesure dépassent un ensemble
de test standard, ce qui permet la détection d'un mauvais contact lorsque vous utilisez un appareil
à 2 bornes pour effectuer la mesure. Les erreurs s'affichent sur l'écran de mesure et sortent sur
EXT I/O. Hi Z et le message d'erreur s'afficheront en haut de l'écran de mesure. (Voir « 11.3 Mes-
sage d'erreur et affichage des erreurs » (p. 2 30).)
La référence du test est calculée à partir de la valeur nominale (nom de la gamme) de la gamme
de mesure du courant et la valeur de référence du test, comme indiqué ci-dessous.
Référence du test = valeur nominale de la gamme de mesure du courant × valeur de référence du
test (%)
Exemple de valeur nominale de la gamme de mesure actuelle : 10 k
Valeur de référence du test : 150%, référence du test = 10 k
Méthode d'affichage de l'écran (Pour plus d'informations, voir p. 2 4) :
(Écran de mesure) Touche
1
Touchez la touche ON.
2
Utilisez la touche
valeur de référence de test.
SET >(écran SET) onglet
pour définir la

Définition des paramètres d'application
Ω
,
Ω
× 1,50 = 15 k
ADVANCED > touche Hi Z
Gamme réglable : 0% à 30 000%
Si vous faites une erreur lors de la saisie,
touchez la touche
et recommencez.
Un rapport est défini en utilisant le nom de la
gamme comme valeur de référence.
Exemple : Lorsque la gamme 1 k
sée :
Un rapport à la valeur de 1 k
3
Touchez la touche
Affiche l'écran de mesure.
Ω
)
C pour annuler la saisie
Ω
est utili-
Ω
est défini.
EXIT deux fois.
85
3