Annexe. 8 Correction De Circuit Ouvert Et Correction De Court-Circuit - Hioki IM3536 Manuel D'instructions

Annexe. 8 Correction de circuit ouvert et correction
de court-circuit
La composante à impédance résiduelle de l'attache de test peut être considérée en termes de
circuit équivalent, comme indiqué dans la figure. De plus, comme la valeur
dance comprend cette composante résiduelle, par conséquent, pour obtenir la valeur d'impédance
réelle, il est nécessaire de compenser la valeur mesurée en fonction de la composante résiduelle
d'impédance en circuit ouvert et de la composante résiduelle de court-circuit, qui doivent donc être
obtenues.
H
CUR
H
POT
Zm
L
POT
L
CUR
Zx
: valeur vraie
Ls
: inductance résiduelle
Co
: valeur de capacité flottante
Yo
: composante résiduelle de circuit ouvert
Dans ce cas, pour la valeur
1
Zm Zs
= +
1
Yo +
Zx
Les composantes résiduelles peuvent être déterminées de la manière suivante :
Correction de circuit ouvert :
Les bornes de l'attache de test restent séparées (circuit ouvert). Comme la composante résiduelle de court-cir-
Zs
cuit est maintenant zéro, le composante résiduel de circuit ouvert
Correction de court-circuit :
Les bornes de l'attache de test sont raccordées l'une à l'autre (circuit ouvert).
Comme la composante résiduelle de circuit ouvert
Zs
court-circuit peut donc être déterminé.
Ces composantes résiduelles ainsi obtenues sont enregistrées en tant que valeurs de compensa-
tion, et le processus de compensation peut alors être exécuté en les substituant dans l'équation
ci-dessus.
La détermination de la gamme de test est effectuée en fonction de la valeur
Par conséquent, il peut arriver que le test ne puisse être effectué, quand
test déterminée uniquement en fonction de la valeur de l'impédance de l'échantillon testé. Dans ce cas,
vous devez définir la gamme de test en tenant compte à la fois de l'impédance de l'échantillon de test et
des composantes résiduelles d'impédance de l'attache de test.
Les différences entre les valeurs mesurées peuvent devenir relativement importantes dans les cas
suivants :
Si seule correction de circuit ouvert a été réalisée :
Lorsque seule la correction de circuit ouvert a été effectuée, et qu'aucune correction ne peut être effectuée en
termes de composante résiduelle de court-circuit
résultantes augmentera si la valeur de cette composante résiduelle de court-circuit
Si seule correction de court-circuit a été réalisée :
Lorsque seule la correction de court-circuit a été effectuée, et qu'aucune correction ne peut être effectuée en
termes de composante résiduelle de circuit ouvert
résultantes augmentera si la valeur de cette composante résiduelle de circuit ouvert
Veillez à effectuer les deux types de correction pour éviter cette situation.
Zs
Rs
Ls
G
Co
Fixation
Zm
mesurée :
Yo
est maintenant zéro, la composante résiduelle de
Zs
(qui n'est pas disponible), la différence entre les valeurs
Yo
(qui n'est pas disponible), la différence entre les valeurs
Correction de circuit ouvert et correction de court-circuit
Zx
Yo
Échantillon de mesure
Rs
: résistance résiduelle
Go
: conductance résiduelle
Zs
: composante résiduelle de
court-circuit
Zm
: valeur mesurée
Yo
peut donc être déterminé.
Zm
mesurée pour l'impédance.
HOLD est activé, si la gamme de
Zm
mesurée d'impé-
Zs
est relativement élevée.
Yo
est relativement élevée.
Annexe.11
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