Réglage du délai (à partir de la génération du résultat du test à la géné-
― ― ―
ration d'EOM
) et de l'opération de réinitialisation du résultat du test
Le délai de la période à partir de la génération des résultats du comparateur et de test BIN jusqu'à
― ― ―
la sortie de EOM
d'EXT I/O peut être défini.
Vous pouvez également choisir de réinitialiser les résultats du comparateur et de test BIN lorsque
la sortie changements de génération d'EOM
(Voir « 9.2 Exemple de temporisation de mesure (chronogrammes) » (p. 171).)
Méthode d'affichage de l'écran (Pour plus d'informations, voir p. 24.) :
(Écran de mesure) Touche
1
Réglez le délai à l'aide de la touche .
Gamme réglable : de 0,0000 s à 0,9999 s
Si vous faites une erreur, touchez la touche
C
pour saisir la valeur à nouveau.
― ― ―
passe à HI (indiquant que la mesure est en cours).
SET
>(écran SET) onglet
ADVANCED
> touche
IO JUDGE
2
Sélectionnez le réglage de blocage/ré-
initialisation du résultat du test.
OFF
Enregistre les derniers résultats
de test jusqu'à ce que les pro-
chains résultats de test soient
générés.
ON
Réinitialise les résultats du test
lors du passage du signal EOM
HI.
3
Touchez la touche
EXIT
Affiche l'écran de mesure.
Paramètres I/O externes
― ― ―
à
deux fois.
181
9