Hioki IM3536 Manuel D'instructions page 178

Exemple de temporisation de mesure (chronogrammes)
Descriptions des intervalles du chronogramme
Inter-
valle
t1 À partir du comparateur, résultat de test BIN à EOM (LO) : Réglage de la va-
leur de délai
t2 De la largeur EOM
au prochain déclenchement
― ― ― ―
t3 De TRIG
*3
circuit
― ― ― ― ― ― ―
t4 Largeur
minimum), basculement possible du lancement avec INDEX
― ― ― ― ― ― ―
t5 Largeur
t6 De la largeur TRIG
chargement du panneau et de détection de signal de demande de réglage DC
t7 Largeur d'impulsion de déclenchement (temps LO)
t8 Déclenchement désactivé (temps HI)
*1 : Il y a une erreur approximative de 100 µs dans le délai de saisi du résultat de test↔EOM
réglage. t1 est la valeur de référence lorsque la valeur de réglage est 0,0000 s.
*2 : t2 est la valeur de référence lorsque l'entrée de déclenchement lors de la mesure est désactivée (p. 182).
*3 : Lorsque le numéro de panneau est lu par la fonction de chargement du panneau, le temps de réponse est
tel qu'indiqué dans le tableau ci-dessous.
Mode de me-
sure
LCR
Les délais de temporisation, de déclenchement et DC sont ajoutés à t3. Lors de l'utilisation de la condi-
tion« Déclenchement externe » (p. 218), 500 µs est ajouté à t3.
*4 : Valeur de référence pour la fréquence de mesure : 1 kHz, vitesse de mesure : FAST, Gamme : HOLD
(p. 217)
• Étant donné que la vitesse à laquelle les résultats du comparateur et de test BIN augmente (LO → HI)
varie en fonction de l'architecture du circuit connecté à EXT I/O, utiliser le niveau des résultats du test im-
médiatement après la génération d'EOM
définissez un délai (t1) entre la sortie de résultat de test et la génération d'EOM
De plus, en configurant l'appareil de manière à ce que le signal de résultat de test d'EXT I O soit réinitia-
lisé en même temps que le signal de début de mesure (forçant ainsi les résultats de test vers la transition
à HI en même temps que l'entrée TRIG
sont générés à la fin de la mesure peut être éliminée. Par conséquent, le délai défini entre la génération
du résultat de test et la génération d'EOM
confirmation du résultat du test est valable jusqu'à ce que le prochain déclenchement soit accepté.
• Lors de l'entrée du déclenchement d'EXT I/O ou de la communication en utilisant l'une des interfaces de
l'appareil lors de la mesure, la variabilité du délai entre la génération du comparateur et des résultats de
test BIN et la génération d'EOM
périphérique externe doit être évité pendant la mesure dans la mesure du possible.
Réglage sur l'appareil :
Voir « Réglage du délai (à partir de la génération du résultat du test à la génération d'EOM) et de l'opéra-
tion de réinitialisation du résultat du test » (p. 181).
Réglage avec une commande de communications :
Reportez-vous au disque d'application LCR - Communications command (
:IO:RESult:RESet
(
172
Description
*1
(p. 181.)
― ― ― ― ― ― ―
(LO) à TRIG (LO) : Temps minimum de la fin de la mesure
*2
― ― ― ― ―
(LO) à INDEX (HI) : Temps depuis le déclenchement à la réponse du
― ― ― ― ―
INDEX (HI) : Temps de mesure analogique (=temps de lancement
― ― ―
EOM (HI) : Temps de mesure*4
― ― ― ― ― ―― ― ― ― ―
(LO) à LD-VALID
Type de sauve-
garde des don-
nées chargées
LCR+ADJ Conditions de mesure et valeurs de correction
Conditions de mesure LCR et réglage de la correc-
LCR
tion de la longueur de câble
Paramètres de correction de circuit ouvert, court-cir-
ADJ cuit, charge et corrélation (graduation) et valeurs de
correction seulement
― ― ―
peut entraîner une détection erronée. Pour éviter ce phénomène,
― ― ― ― ― ― ―
[EOM
― ― ―
peut être réduit. Cependant, soyez prudent car 'intervalle de
― ― ―
peut augmenter. Par conséquent, tout contrôle de l'appareil à partir d'un
).
― ― ― ― ―
(LO)
― ― ― ― ―
(HI), CALIB (HI) : Temps d'exécution du
Contenu des données chargées
{HI}]), la transition de LO à HI lorsque les résultats de test
Temps
(Environ)
40 µs
400 µs
400 µs
1 ms
*4
1,7 ms
Au moins t3
Au moins 100 µs
Au moins 100 µs
― ― ―
pour la valeur de
Temps de ré-
ponse
Environ 6,5 ms
Environ 5 ms
Environ 1,5 ms
― ― ―
.
:IO:OUTPut:DELay
),