Leuze electronic MSI 200 Manuel De L'utilisateur page 53

Datos generales
Separación galvánica
Protección contra sobretensiones
Líneas de fuga y espacios de aire entre los circui-
tos
Tensión de dimensionamiento
Tensión transitoria de dimensionamiento
Grado de suciedad
Categoría de sobretensiones
Posición de montaje
Material de la carcasa
Dimensiones
(ancho/alto/profundo)
Sección de conductor
Parámetros técnicos de seguridad
Categoría
Performance Level
SILCL
Safety Integrity Level (SIL)
Parámetros
MTTF
D
DC
Parámetros según IEC 61508 (EN 62061)
PFH
Intervalo del Proof Test (T
1)
Para el empleo de componentes electromecánicos (p. ej., contactores) se debe despreciar la carga
capacitiva.
2)
En cargas inductivas se debe realizar un circuito de protección adecuado y eficaz.
Como medida se recomienda el uso de diodos de libre circulación.
3)
Los datos son válidos solamente si la función de seguridad se solicita por lo menos una vez al año.
4)
Puesto que todas las pruebas de diagnóstico se realizan durante el servicio, se acepta la vida útil para
el intervalo de la prueba funcional (Proof Test).
Curva derating:
Conexión por tornillo (67,5 / 114,5 / 99) mm
Conexión por resorte (67,5/114,5/112) mm
Conexión por tornillo 0,2 - 2,5 mm
Conexión por resorte 0,2 - 1,5 mm
según EN 954-1 4
según EN ISO 13849-1 e
según EN 62061 3
según IEC 61508 3
según EN ISO 13849
[años] 8321 (high)
[1/h] 1,37 x 10
) [meses] 240
1
2
1,5
1
0,5
0
25 30 35 40 45 50 55 60
0
Sí, entre la fuente de alimentación para el sistema
lógico (A1/A2) y la fuente de alimentación para las
salidas seguras (24 V/0 V)
Diodo supresor
según DIN EN 50178:1998-04 1
Aislamiento básico
50 V
0,8 kV
2
III
Horizontal
Poliamida PA sin reforzar
2
(AWG 24-12)
2
(AWG 24-16)
3)
99 % (high)
3)
-8
4)
Temperatura ambiente [°C]
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