MI 3325 MultiServicerXD
Annexe A Profils d'utilisateurs
Les appareils supportent le travail avec de multiples profils. Cette annexe contient un ensemble
de modifications liées aux exigences particulières du pays. Certaines modifications comportent
des fonctions listées liées aux chapitres principaux et d'autres sont des fonctions
supplémentaires. Certaines modifications sont liées à des exigences différentes du même
marché qui est lui-même couvert par divers fournisseurs.
A.1 Profil autrichien (AUAF)
Les tests retardés du DDR de type G sont pris en charge.
Modifications dans les chapitres :
6.1.29 DDR Uc – tension de contact ,
6.1.30 DDR t – Temps de déclenchement
6.1.31 DDR I – Courant de déclenchement
6.1.32 DDRRCD Auto – test automatique de DDR
La sélection du DDR de type G retardé dans les paramètres de sélectivité dans la section des
paramètres / limites de test comme indiqué :
Sélectivité
Caractéristiques [--, S, G]
Les limites de temps sont les mêmes que pour le DDR de type général et le calcul de la tension
de contact est le même que celui du DDR de type général.
Les DDR et DDR (G) sélectifs avec une caractéristique retardée présentent des caractéristiques
de réponse retardée. Ils contiennent un mécanisme d'intégration du courant résiduel pour la
génération d'un déplacement tardif. Cependant, le pré-test de tension de contact dans la
procédure de mesure influence également le DDR et il faut un certain temps pour récupérer dans
l'état inactif. Un délai de 30 s est inséré avant d'effectuer un test de déclenchement pour
récupérer le DDR de type S après les pré-tests et un délai de 5 s est inséré pour le même objectif
pour le DDR de type G.
Tableau 6.7 : liens entre Uc et I
Type de DDR
AC
AC
A, F
A, F
A, F
A, F
B, B+
B, B+
modifiés comme suit :
N
Tensions de contact Uc
proportionnelles à
--
1.05I
G
S
21.05I
--
1.41.05I
G
S
21.41.05I
--
21.05I
G
S
221.05I
--
21.05I
S
221.05I
204
N
N
N
N
N
N
N
N
Annexe B
Taux I
N
Tous
30 mA
< 30 mA
Tous