Rockwell Automation Allen-Bradley 1794-IR8 Manuel Utilisateur page 35

Communication et configuration dans la table-image des E/S avec l'adaptateur DeviceNet
Temps de scrutation
système
Voir
page 4-4
Configuration de données
dans la table image
Le temps de scrutation système, de l'entrée analogique au fond
de panier, est fonction de :
la fréquence configurée pour la première graduation du filtre
A/N
le nombre de voies réellement configurées pour un capteur
spécifique
Le convertisseur A/N qui convertit les données analogiques des
voies 0 à 7 en mot numérique fournit un filtre de première
graduation programmable. Vous pouvez définir la position de la
première graduation de ce filtre pendant la configuration du
module. La sélection influe sur le débit des données de sortie
A/N, et donc affecte le temps de scrutation système.
Le nombre de voies comprises dans chaque scrutation des entrées
affecte aussi le temps de scrutation système.
La configuration de la table de données du module analogique
RTD d'E/S FLEX est représentée ci-dessous.
Configuration de la table image du module analogique
d'entrées RTD (1794 IR8)
Image des E/S
Taille des entrées
1 à 11 mots
Taille des sorties
0 à 4 mots
Image du module
Réservé
Voie 0 des données d'entrée
Voie 1 des données d'entrée
Voie 2 des données d'entrée
Voie 3 des données d'entrée
Voie 4 des données d'entrée
Voie 5 des données d'entrée
Voie 6 des données d'entrée
Voie 7 des données d'entrée
Au dessus de la plage
Etat d'étalonnage
Masque d'étalonnage
Type RTD
Type RTD
Non utilisé
5–3
En dessous de la plage
Configuration
Publication 1794 6.5.4FR