MI 3155 EurotestXDErreur ! Utilisez l'onglet Accueil pour appliquer Heading 1 au texte que vous souhaitez fa
4.13 Zs ddr – Impédance de boucle de défaut et courant de
défaut prospectif dans un système avec DDR
La mesure Zs ddr empêche le déclenchement du DDR dans les systèmes qui en sont équipés.
Image 4.46: Menu Zs ddr
Paramètres et limites de la mesure
Protection
Type de protection [TN, TTrcd]
Type
Sélection du type de fusible [Off, gG, NV, B, C, D, K, Personnalisé]
1)
fusible
1)
Fusible I
Courant nominal du fusible sélectionné
1)
Fusible t
Temps d'ouverture maximum pour le fusible sélectionné
1)
Ia(Ipsc)
Courant court-circuit minimum pour le fusible sélectionné ou valeur
personnalisée
Facteur Isc
Facteur Isc [0.20 ... 3.00]
3)
Test
Sélection du test [-, L-PE, L1-PE, L2-PE, L3-PE]
2)
I ∆N
Sensibilité du courant résiduel du DDR [10 mA, 15 mA, 30 mA, 100 mA, 300
mA, 500 mA, 1000 mA]
2)
Type DDR
Type DDR [AC, A, F, B, B+]
2)
Sélectivité
Caractéristique [G, S]
Uc (P)
Mesure tension de contact avec sonde externe [On, Off]
I test
Courant de test [Standard, faible]
2)
Limit Uc
Limite tension de contact [12 V, 25 V, 50 V]
1)
Paramètre/limite pris(e) en compte si Protection = TN
2)
Paramètre/limite pris(e) en compte si Protection = TTrcd.
3)
Avec le cordon de test prise ou le Plug commander Zs ddr est toujours mesurée de la
même manière, indépendamment du paramètre qui est utilisé uniquement à des fins de
documentation.
Se référer au document Table des fusibles pour des informations détaillées sur les données
fusibles.
50