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Fonctions
6.3 Entrée analogiques (AI)
correspondant est paramétrable. Le tableau suivant répertorie les courants correspondants et
les valeurs S7 correspondantes.
Tableau 6-6
Débordement haut "ap‐
paraissant"
Débordement haut "dis‐
paraissant"
Effet sur QI
Un débordement bas se produit lorsque la limite inférieure de la plage de mesure est
atteinte. Le bit Quality QI de l'emplacement est mis à 0. Le message de diagnostic
correspondant est paramétrable. Le tableau suivant répertorie les courants correspondants et
les valeurs S7 correspondantes.
Tableau 6-7
Débordement bas "ap‐
paraissant"
Débordement bas "dis‐
paraissant"
Effet sur QI
Chaque emplacement d'entrée analogique dispose de deux seuils supérieurs et de deux
seuils inférieurs paramétrables dont le dépassement haut ou bas peut générer une alarme
de processus. Les deux alarmes de processus peuvent être activées individuellement pour le
dépassement haut et le dépassement bas.
Le lissage compense les variations de valeurs de mesure. Les valeurs de mesure individuelles
sont lissées par filtrage. Le lissage peut se régler en 4 niveaux.
Temps de lissage = nombre de cycles du module (k) x temps de cycle du module.
La figure suivante montre après combien de cycles du module la valeur analogique lissée est
proche de 100 %, en fonction du lissage paramétré. Ceci vaut pour chaque changement de
signal à l'entrée analogique.
42
Courants et valeurs S7 en cas de débordement haut
0 ... 20 mA
I ≥ 23,518 mA (0x7EFF) I ≥ 22,814 mA (0x7EFF) I > 21 mA (0x72BF)
I < 23,518 mA (0x7EFF) I < 22,814 mA (0x7EFF) I < 20,5 mA (0x6F60)
Toujours
Courants et valeurs S7 en cas de débordement bas
0 ... 20 mA
–
–
–
4 ... 20 mA
Toujours
4 ... 20 mA
I ≤ 1,185 mA (0xED00)
I > 1,185 mA (0xED00)
Toujours
SIMATIC Compact Field Unit (CFU) CIO HART
Manuel système, 06/2024, A5E52551275-AA
4 ... 20 mA / NE43
Toujours
4 ... 20 mA / NE43
I < 3,6 mA (0xFD4D)
I > 3,8 mA (0xFEA6)
Toujours
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