Micropilot FMR50/51/52/53/54/56/57
Test de fonctionnement
périodique
Préparation du test de
fonctionnement périodique
Endress+Hauser
Test de fonctionnement périodique
Contrôler la capacité de fonctionnement et la fiabilité des fonctions de sécurité à intervalles
appropriés ! L' u tilisateur doit déterminer les intervalles de temps.
Vous pouvez vous reporter au diagramme "Intervalle test de fonctionnement périodique" → 10.
Dans une architecture monovoie, la valeur PFD
diagnostic de couverture du test de fonctionnement périodique (PTC = Proof Test Coverage –
couverture du test de fonctionnement périodique) et de la durée de vie escomptée (LT =
Lifetime – durée de vie), comme spécifié dans la formule suivante :
PFD =
avg
Pour les tests de fonctionnement périodiques décrits ci-dessous sont spécifiées les couvertures du
test de fonctionnement périodique respectives, qui peuvent être utilisées pour le calcul.
Le test de fonctionnement périodique de l' a ppareil peut être effectué comme suit :
1.
Approche du niveau dans la cuve d' o rigine (→ séquence de test A).
2.
Retrait de l' a ppareil et mesure de la surface d' u n produit aux propriétés comparables (→
séquence de test B).
3.
Auto-test de l' a ppareil et simulation du niveau (→ séquence de test C). Aucun changement du
niveau dans la cuve n' e st nécessaire pour cette séquence.
Vous devez également vérifier que tous les joints de couvercles et entrées de câble sont étanches.
ATTENTION
L
Pour garantir la sécurité du process.
‣
Pendant le test de fonctionnement périodique, des mesures de surveillance alternatives doivent
être prises pour garantir la sécurité du process.
Si l' u n des critères de test issu des séquences de test suivantes n' e st pas satisfait, l' a ppareil ne
doit plus être utilisé en tant qu' é lément d' u n système instrumenté de sécurité. Le but du test de
fonctionnement périodique est de détecter les défauts aléatoires de l' a ppareil (λ
défauts systématiques sur la fonction de sécurité n' e st pas couvert par ce test et doit être évalué
séparément. Les défaut systématiques peuvent être occasionnés, par exemple, par les propriétés
des matériaux du process, les conditions de fonctionnement, la formation de dépôt ou la
corrosion.
Séquence de test A
1.
Connecter un appareil de mesure approprié (précision recommandée supérieure à ±0,1 mA) à
la sortie courant.
2.
Déterminer le réglage de sécurité (surveillance des limites ou de la gamme de niveau).
Séquence de test B
1.
Préparer une cuve de test avec un produit de test (constante diélectrique comparable à celle du
produit à mesurer). La cuve peut être ouverte ou fermée. Pour les instructions d' i nstallation, se
reporter au manuel de mise en service → 6.
2.
Désactiver le mode SIL. A cette fin, entrer le code de déverrouillage approprié (WHG : 7450 ;
SIL : 7452 ; SIL et WHG : 7454) dans le menu de configuration "Configuration > Config.
étendue > Désactiver SIL/WHG".
3.
Retirer l' a ppareil et le monter dans la cuve de test fermée ou au-dessus de la cuve de test
ouverte.
4.
Connecter un appareil de mesure approprié (précision recommandée supérieure à ±0,1 mA) à
la sortie courant.
5.
Effectuer une cartographie des échos parasites si la forme et la taille de la cuve de test est
différente.
6.
Déterminer le réglage de sécurité (surveillance des limites ou de la gamme de niveau).
devant être utilisée dépend du taux de
avg
1
PTC
T +
MTTR +
l
l
•
•
•
•
DU
1
DD
2
1
(1 – PTC)
LT
l
•
•
•
DU
2
). L' i mpact de
du
A0024244
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