Table des Matières
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2 6 0 0 T | T R A N S M E T T E U R S D E P R E S S I O N | S M/ 2 6 6 H A R T- S I L- F R R E V. R
– Transmetteurs de pression HART avec bloc de jonction doté d'un parasurtenseur (code supplémentaire : S2)
λdd [h
]
-1
λdu [h
-1
]
λsd [h
]
-1
λsu [h
]
-1
λtot sf [h
]
-1
HFT
Architecture
T mission
PTC [%]
SFF [%]
MTBF [années]
MTTR
Ampèremètre
PFDavg (PTI=1 an)
PFDavg (PTI=10 ans)
PFH
Durée du test
Durée du test ROM
– Transmetteurs de pression HART avec bloc de jonction doté de la CEM étendue (code supplémentaire sur demande : YE)
λdd [h
]
-1
λdu [h
]
-1
λsd [h
]
-1
λsu [h
]
-1
λtot sf [h
]
-1
HFT
Architecture
T mission
PTC [%]
SFF [%]
MTBF [années]
MTTR
Ampèremètre
PFDavg (PTI=1 an)
PFDavg (PTI=10 ans)
PFH
Durée du test
Durée du test ROM
Le taux de défaillance n'est valide que pour la durée de vie utile de l'instrument. Le taux de défaillance augmente à l'expiration de la
durée de vie attendue. Pour effectuer le calcul PDFavg, un temps de mission de 10 ans a été pris en compte. Un temps de mission
supérieur à la durée de vie de l'instrument ne peut pas être appliqué pour ce calcul car le résultat final pourrait être trop optimiste.
266DXX, 266VXX,
266MXX, 266RXX
266HXX (sauf
gamme Z), 266NXX
7.74E-07
9.11E-07
1.08E-07
7.29E-08
2.67E-07
2.24E-07
1.39E-07
1.40E-07
1.300E-06
1.35E-06
91.63
94.59
89
85
D : 87.79
D : 92.59
S : 65.78
S : 61.56
9.03E-04
6.14E-04
4.72E-03
3.20E-03
1.08E-07
7.29E-08
< 20 s
< 20 s
266DXX, 266VXX,
266MXX, 266RXX
266HXX (sauf
gamme Z), 266NXX
7.74E-07
9.11E-07
1.08E-07
7.29E-08
2.69E-07
2.25E-07
1.46E-07
1.47E-07
1.300E-06
1.36E-06
91.69
94.62
88
84
D : 87.79
D : 92.59
S : 64.76
S : 60.55
9.03E-04
6.14E-04
4.72E-03
3.20E-03
1.08E-07
7.29E-08
< 20 s
< 20 s
266MXX, 266RXX
266GXX, 266AXX
(uniquement
gamme R)
9.17E-07
9.07E-07
7.45E-08
7.28E-08
2.24E-07
2.23E-07
1.40E-07
1.40E-07
1.35E-06
1.34E-06
0
1oo1
10 ans (87600 h)
90
94.50
94.57
84
85
8 heures
D : 92.48
D : 92.56
S : 61.58
S : 61.55
6.28E-04
6.13E-04
3.27E-03
3.20E-03
7.45E-08
7.28E-08
< 20 s
< 5 s
Voir paragraphe « Durée du test ROM »
266MXX, 266RXX
266GXX, 266AXX
(uniquement
gamme R)
9.17E-07
9.07E-07
7.45E-08
7.28E-08
2.26E-07
2.25E-07
1.47E-07
1.47E-07
1.36E-06
1.35E-06
0
1oo1
10 ans (87600)
90
94.54
94.61
84
84
8 heures
D : 92.48
D : 92.56
S : 60.56
S : 60.54
6.28E-04
6.13E-04
3.27E-03
3.20E-03
7.45E-08
7.28E-08
< 20 s
< 5 s
Voir paragraphe « Durée du test ROM »
266HXX
266HXX, 266GSH
(uniquement
(uniquement
gamme W)
gamme Z)
7.82E-07
8.19E-07
1.09E-07
7.47E-08
2.68E-07
2.29E-07
1.39E-07
1.40E-07
1.299E-06
1.26E-06
91.57
94.08
88
90
D : 87.73
D : 91.64
S : 65.88
S : 62.16
9.17E-04
6.28E-04
4.80E-03
3.28E-03
1.09E-07
7.47E-08
< 20 s
< 5 s
266HXX
266HXX, 266GSH
(uniquement
(uniquement
gamme W)
gamme Z)
7.82E-07
8.19E-07
1.09E-07
7.47E-08
2.70E-07
2.31E-07
1.46E-07
1.47E-07
1.308E-06
1.27E-06
91.63
94.12
87
90
D : 87.73
D : 91.64
S : 64.87
S : 61.17
9.17E-04
6.28E-04
4.80E-03
3.28E-03
1.09E-07
7.47E-08
< 20 s
< 5 s
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