2.2 Configuration
2.2.3
Définitions de rack
Configuration
>Définitions de rack
>Définition de rack
>>Charger rack
Avec
<QUIT>,
accès
Pour effectuer des modifications sur les définitions d'un rack d'échantillons, il
au niveau su-
est nécessaire de tout d'abord charger les données de ce rack. Les données
périeur suivant
des racks standards Metrohm sont mémorisées sous leurs numéros de
commande respectifs.
>Charger rack
rack:
Avec la touche <SELECT>, il est possible de faire une sélection à partir des
données de rack mémorisées. Avec <ENTER>, les données de rack sont
chargées. Comme première sélection apparaît la désignation du rack mo-
mentanément installé.
>Charger rack
code
Le code magnétique sert à une reconnaissance sans erreur possible d'un
rack spécifique. La reconnaissance du code magnétique a lieu au cours de
l'initialisation du rack. C'est la raison pour laquelle, après chaque change-
ment de rack, il est absolument nécessaire d'appuyer sur la touche
<RACK>.
Pour des raisons de sécurité, il convient de régler le trajet maximal de
l'élévateur, avant d'effectuer des modifications sur les positions d'élévateur,
voir chap. 2.2.2.
>Charger rack
pos. de travail T1
>Charger rack
pos. de rinçage T1
>Charger rack
pos. rotation T1
>Charger rack
pos. spéciale T1
20
Sous-menu pour la définition des racks individuels
6.2041.450
10 caractères ASCII
000001
000001...111111
0 mm
0...235 mm
0 mm
0...235 mm
0 mm
0...235 mm
0 mm
Ouvrir le sous-menu avec <ENTER>
Charger les définitions de rack
Désignation du rack à charger
Code magnétique du rack
Voir tableau du chapitre 3.1.1.
Hauteur de travail de l'élévateur pour les
béchers échantillons*
(en mm en partant de la butée supérieure)
Hauteur de rinçage de l'élévateur pour
les béchers échantillons*
(en mm en partant de la butée supérieure)
Position de rotation de l'élévateur pour
les béchers échantillons*
(en mm en partant de la butée supérieure)
Position spéciale de l'élévateur pour les
béchers échantillons*
Metrohm 838 Advanced Sample Processor
)
)
)
)