Wavetek Meterman 235 Manuel D'utilisation page 45

Résolution, gamme 400: 100m
Protection de surcharge, toutes gammes:
500Vcc ou ca eff.
Tension max en circ. ouvert: -1.2V cc en gme
400; -0.45V cc dans les autres gammes.
Test de Continuité Test de Continuité
Test de Continuité Test de Continuité
Indication sonore dans la gamme 400
Seuil de déclenchement: <40
Temps de réponse: <100ms
Tension en circuit ouvert: -1.2Vcc (typiq.)
Protection de surcharge: 500Vcc ou ca eff
Test de Diodes Test de Diodes
Test de Diodes Test de Diodes
Courant de test: 1mA cc typiq.
Tension de test: 3.2VDC typiq.
Précision: ±(1.5% lect + 2 dgt)
Protection de surcharge: 500Vcc ou ca eff
Mesure de Fréquence Mesure de Fréquence
Mesure de Fréquence Mesure de Fréquence
Gammes: 4, 40, 400kHz, 4, 40MHz
Précision: ±(0.1% lect + 2 dgt)
Résolution: 1Hz en gamme 4kHz
Sensibilité: 4Hz-4MHz >1Vrms;
4 - 40MHz >1.5Vrms <3Vrms
Rapport cyclique: > 30% & < 70%
Protection de surcharge: 500Vcc ou ca eff
Mesure de Capacité Mesure de Capacité
Mesure de Capacité Mesure de Capacité
Gammes: bornes F2 4, 40, 400nF; 4, 40µF;
Entrées mA/F1-COM: 400, 4000µF, 40mF
Précision,
gms 4n-4µF: ±(2.0% lect + 4 dgt)
gms 40µ-4000µF: ±(3.0% lect + 4dgt)
gms 40mF: ±(3.0% lect + 15 dgt)
Résolution: 1pF en gamme 4nF
Fréquence de test/temps de réponse:
Gms 4n-40µF: 1.3Hz/2s;
gms 400µ-4000µF: 7.8Hz/10s;
gme 40mF: 7.8Hz/30s
Protection de surcharge: gms 400µF-40mF
(entrées mA/F1-COM) fusible 0.1A/250V,
5x20mm; 4n-40µF (bornes F2) N/A
Température Température
Température Température
Gammes, mode °C: -20°C à 1300°C
mode °F: -4°F à 2372°F
Précision, mode °C:
- 20° à 400°C: ±(2.0%lect + 2°C)
400° à 1300°C: ±(3.0%lect + 2°C)
Précision, mode °F:
- 4° à 400°F: ±(2.0%lect + 4°F)
400° à 2372°F: ±(3.0%lect + 4°F)
Résolution: 1°C/1°F
Protection d'entrée: 60Vcc or 24Vca
Transistor Beta Transistor Beta
Transistor Beta Transistor Beta
Types de transistors: NPN, PNP
Gamme hFE: 0 - 1000
Courant de base hFE: 10µA cc
Tension C-E: 3.0 Vcc
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