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Die Messstative MS 100 und MS 200 sind hinsichtlich mechanischer und thermischer Stabilität für das Messen im 0,5 µm-Bereich ausgelegt.
Die Rechtwinkligkeit der Messtaster zum Messtisch quer zur Tasteranschraubfläche (Ebene XZ) ist dabei durch das Stativ vorgegeben.
Die Rechtwinkligkeit zwischen den Messtastern und Messtisch parallel zur Tasteranschraubfläche (Ebene YZ) muss eingestellt werden, siehe S.10.
The MS100 and MS 200 gauge stands are designed in terms of their mechanical and thermal stability for measurements in the 0.5 µm range.
The perpendicularity of the length gauges to the measuring table at a right angle to the mounting surface (plane XZ) is ensured by the gauge stand.
The perpendicularity of the length gauges to the measuring table parallel to the mounting surface (plane YZ) must be adjusted, see page 10.
Pour assurer leur stabilité mécanique et thermique, les supports de mesure MS 100 et MS 200 sont conçus pour une mesure à 0,5 µm.
L 'orthogonalité des palpeurs de mesure par rapport à la table de mesure et perpendiculairement à la surface de fixation du palpeur (plan XZ) est
déterminée par le support. L 'orthogonalité entre les palpeurs de mesure et la table de mesure parallèlement à la surface de fixation du palpeur
(plan YZ) doit être ajustée; cf. page 10.
Gli stativi di misura MS 100 e MS 200 sono concepiti per misurazioni nell'ordine di 0,5 µm in merito a stabilità meccanica e termica.
La perpendicolarità dei MS 100 e MS 200 rispetto alla tavola di misura perpendicolarmente alla superficie di montaggio dei tastatori (piano XZ)
è garantita dallo stativo.
La perpendicolarità tra tastatori e tavola di misura parallelamente alla superficie di montaggio dei tastatori (piano XY) deve essere regolata,
vedi pag. 10.
Los soportes de medición MS 100 y MS 200 están preparados, en cuanto a estabilidad mecánica y térmica se refiere, para medir en el rango de
0,5 µm.
La perpendicularidad del palpador a la mesa, oblicuamente a la superficie de atornillamiento del palpador (plano XZ), viene dada por el propio
soporte.
La perpendicularidad del palpador a la mesa, paralelamente a la superficie de atornillamiento del palpador (plano YZ), debe ser ajustada (ver pág. 10).
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