MW 9665
DDR généraux
t
> 1999 ms
(Non-différés)
DDR sélectifs
t
> 1999 ms 130 ms < t
(à temps différé)
Table 4.3: Temps de déclenchement d'après la norme BS 7671
Type de DDR I
N
I
> 10 30
II
III
IV
S
Tableau 4.4: Temps de déclenchement d'après la norme AS/NZS 3017
Tableau 4.5: temps de test maximum en fonction des courants sélectionnés pour DDR général
Table 4.6: Temps de test maximums en fonction des courants sélectionnés pour DDR sélectif (à
1)
Période de test maximale pour un courant de ½I
2)
La précision du test de courant et de la mesure correspond aux exigences de la norme AS/NZS 3017
3)
U
est la tension nominale U
0
Note:
Les temps limites de déclenchement pour DDRP, DDRP-K et DDRP-S sont les mêmes
que pour les DDR généraux (non différés).
1)
½I
I
N
N
t
< 300 ms
1)
½I
I
N
(mA)
t
10
40 ms
> 999 ms
300 ms 150 ms 40 ms
> 30
300 ms 150 ms 40 ms
500 ms 200 ms 150 ms
> 30
> 999 ms
130 ms 60 ms
Norme
EN 61008 / EN 61009
IEC 60364-4-41
BS 7671
AS/NZS 3017 (I, II, III) 1000 ms 1000 ms 150 ms 40 ms
Norme
EN 61008 / EN 61009 500 ms
CEI 60364-4-41
BS 7671
AS/NZS 3017 (IV)
.
LPE
2I
N
t
< 150 ms
< 500 ms 60 ms < t
< 200 ms 50 ms < t
2I
5I
N
N
N
t
t
t
40 ms
40 ms
50 ms
½I
I
N
N
300 ms
300 ms 150 ms 40 ms
1000 ms 1000 ms 150 ms 40 ms
2000 ms 300 ms 150 ms 40 ms
(non différé).
½I
I
N
N
500 ms 200 ms 150 ms
1000 ms 1000 ms 150 ms 40 ms
2000 ms 500 ms 200 ms 150 ms
1000 ms 1000 ms 200 ms 150 ms
temps différé).
, le DDR ne doit pas se déclencher.
N
33
Utilisation de l'appareil
5I
N
t
< 40 ms
< 150 ms
Note
Temps de rupture maximum
Temps d'inaction minimum
2)
2I
5I
N
N
2I
5I
N
N