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Accès de test
La commande suivante connecte le point d'accès de test 4 au circuit :
CONN-TACC-VC4::<AID A or B>:102::4:<MD>
Les connexions I et J ci-dessus sont des points d'accès de test dans la
Remarque
normales dans la
2.2.9 Définitions du mode d'accès de test
Les schémas suivants indiquent à quoi les différents modes d'accès de test (<MD>) se rapportent. La
Figure 2-5
circuit sans accès (point d'accès de test FAD unique). Les sous-sections ci-après indiquent les circuits de
chaque mode d'accès de test. Le QRS peut être généré par une source externe. Par exemple, la connexion
vide du BRTU.
Les sous-sections suivantes décrivent ces modes :
•
•
Figure 2-5
(Access Identifier,
Identifiant d'accès)
Point d'accès de test
(2 fois la bande passante
Figure 2-6
(Access Identifier,
Identifiant d'accès)
Point d'accès de test
(même bande passante
Guide de référence de Cisco ONS SDH TL1
2-16
Figure
2-4.
illustre un circuit sans accès (point d'accès de test FAD bimode) et la
Les modes d'accès MONE, MONF et MONEF fonctionnent en mode hors service et peuvent être
appliqués (en service) à un port verrouillé.
Les modes d'accès LOOPE, LOOPF, SPLTE, SPLTF, SPLTEF, SPLTA, SPLTB et SPLTAB sont
intrusifs et ne peuvent être appliqués qu'à un circuit/port dont l'état de port est
Unlocked_Maintenance. Le Network Element modifie l'état du circuit de test sur
Unlocked_Maintenance pendant la durée de TACC et le restaure à son état d'origine lorsque la
connexion entre le point d'accès de test et le circuit est abandonnée.
Circuit sans accès (point d'accès de test FAD bimode)
E
AID
A
B
FAD bimode
du circuit utilisé)
Circuit sans accès (point d'accès de test FAD unique)
E
AID
A
B
FAD unique
que le circuit utilisé)
Chapitre 2
Figure
F
Access Identifier
non mis en
correspondance
F
Access Identifier
non mis en
correspondance
Procédures et mise en service
2-3, mais des connexions
Figure 2-6
illustre un
78-19833-01
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