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Mesure de résistance d'isolement (diélectrimètre DXS)
ATTENTION : Lors de test sous une tension supérieure à la tension max. d'une carte
multiplexeur, tous les points de celle-ci sont mis à la masse.
PXSI : VAL 500 10 M 15 M 1 5 1
Mesure avec carte commutation du testeur
XSI
A(P1.1) B(J4.58)
XSI_U A(P1.1)....B(J4.58) .
Mesure avec EXS associé au DXS (Si option EXS)
XSI EXS A[1] B[2]
XSI_U EXS A[1]....B[3] .
Tableau des paramètres limites pour le DXS en fonction « Résistance d'isolement »
Paramètre
Tension d'essai
Résistance seuil
Temps de monté / descente
Temps d'application
Notice utilisation testeur SYNOR 5000 - ind : A – édition Octobre 2010
Temps de descente en secondes
Temps d'application en secondes
Temps de monté en secondes
R seuil maximum
R seuil minimum
Tension d'essai
Paramètres de test du DXS
ème
2
extrémité du composant (point froid)
ère
1
extrémité du composant (point chaud)
Mesure DXS entre deux points
groupe des points B (points froids)
groupe des points A (points chauds)
Mesure DXS par groupes
ème
2
extrémité du composant (point froid)
ère
1
extrémité du composant (point chaud)
Mesure DXS avec EXS entre deux points
groupe des points B (points froids)
groupe des points A (points chauds)
Mesure DXS avec EXS par groupes
Valeur minimum
10 Vdc
0
0
0
Valeur maximum
500 Vdc
200 G
999 s
999 s
152/178
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