Chauvin Arnoux C.A 6541 Notice De Fonctionnement page 147

I I I I I Tiempo de establecimiento típico de la medida en función de los elementos probados
Estos valores incluyen las influencias debidas a la carga del componente capacitivo, al sistema de
gama automática y a la regulación de la tensión de alimentación.
Aislamiento de 1 MΩ
Aislamiento de 500 GΩ
I I I I I Tiempo de descarga del elemento probado (a través de una resistencia interna de 750 kΩ Ω Ω Ω Ω )
hasta 25 V
Tensión inicial
1000 V
500 V
250 V
100 V
50 V
I I I I I Gama de ratios DAR y PI: de 0,000 a 9,999
Precisión: ±5%
7.2.3 Continuidad
I I I I I Método: Medida tensión-corriente según la norma EN 61557-4 (ed. 02/97)
I I I I I Tensión en vacío: Máx. 12,4 Vc.c.(< 15 V con alimentación exterior)
I I I I I Corriente de cortocircuito: > 200 mA c.c.
I I I I I Sobretensión máx.: 1200 V CA y CD durante 10 segundos entre los terminales «+» y «-»
I I I I I Compensación de los cables de prueba:
R∆ se mide en cables de prueba en cortocircuito en el menú SET-UP (ver § 4.7), este valor se
memoriza y substrae de toda medida de continuidad. La compensación está limitada a 5 Ω
I I I I I Rango de medida de continuidad: de 0,01 a 39,99 Ω
I I I I I Resolución: 0,01 Ω
Tensión de prueba 1000 V
1200
1000
800
600
400
200
0
1000
800
Carga no capacitiva
7 s
17 s
Tiempo de descarga
2,8 s
2,2 s
1,7 s
1 s
0,5 s
660 V CA y CD entre los terminales «G» y «-» o «G» y «+»
R visualizada = R medida - R∆
600 400
Resistencia (k )
W
Carga con capacidad de 1 µF
147
200 50
7s
20 s