Hioki IM7580A Manuel D'instructions page 297

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(4) Fonction
Contrôle du
1.
Vérification des contacts à 2 bornes (measure DCR)
contact
Effectue un contrôle des contacts (état des contacts) entre High et Low.
Le test est autorisé en entrant les limites supérieure et inférieure pour les valeurs DCR.
Une fonction qui annule les mesures suivantes lorsque le résultat du test est FAIL est disponible.
La temporisation de vérification peut être modifiée.
BEFORE : Vérification des contacts effectuée avant la mesure
AFTER : Vérification des contacts effectuée après la mesure
BOTH : Vérifications des contacts effectuées avant et après la mesure
Mesure
a. Gamme : 0,1
b. Température et humidité pour la précision garantie : De 0°C à 40°C,
80% d'humidité relative ou moins (sans condensation)
Cependant, en dessous de ±5°C de la température d'étalonnage.
Gamme de
température
d'étalonnage :
Période de précision
garantie :
Temps de
préchauffage :
Face d'étalonnage :
Kit d'étalonnage :
Précision :
Signal de mesure
1 mA ou moins
Nombre d'ondes : 1 à 9999
Temps d'attente
Attente avant la mesure DC : de 0 s à 9,99999 s (résolution : 10 µs)
Attente avant la mesure AC : de 0 s à 9,99999 s (résolution : 10 µs)
Superposition du signal AC disponible
Lorsque la fréquence de mesure du modèle IM7581 est comprise entre 100 kHz et 999,99 kHz,
la superposition du signal AC sera réglée sur
2.
Fonction de rejet Hi-Z (détection de OPEN lors de la mesure à 2 bornes)
Lorsque la valeur de mesure est supérieure à la référence de test, une erreur de contact est
générée. Norme de test : Réglage de 1
Génération d'erreur : Génération d'erreur de EXT I/O
3.
Fonction d'identification d'onde(détection de cliquetis)
Les valeurs efficaces des ondes suivantes sont comparées à la valeur effective de l'onde
qui est lue en premier. Une erreur de contact est générée sir la fluctuation de l'onde suivante
dépasse la référence de test. Référence de test : Le réglage de 0,01% à 100,00% (résolution
0,01%) par rapport la valeur de référence est possible.
Génération d'erreur : Une erreur s'affiche sur l'écran LCD et une erreur est générée par EXT I/O.
Fonction de
Condition de mesure complète : L'enregistrement de 30 types (mode LCR) et 16 types (mode
ANALYZER) de conditions de réglage est possible.
sauvegarde et
Valeur de compensation uniquement : L'enregistrement de 30 types (mode LCR) de valeurs de
chargement
compensation est possible.
du panneau
Les conditions de mesure arbitraires peuvent être lues par des opérations clés ou un signal de
commande via le EXT I/O.
Ω
Ω
à 100
En fonction de la température d'utilisation du kit d'étalonnage.
1 an
(Vérifiez que l'étalonnage de circuit ouvert/court-circuit/charge est
effectué tous les jours avant la mesure.)
Au moins 60 minutes
Adaptateur fixé à la borne de 3,5 mm de la tête de test
Face de la borne de 7 mm de l'adaptateur (3,5 mm/7 mm) (après
l'exécution de l'étalonnage de circuit ouvert/court-circuit/charge
avec le kit d'étalonnage)
Lorsque des produits ayant les spécifications suivantes ou
équivalentes sont utilisés :
Ω
LOAD : 50
±0,5%
Ω
OPEN : 100 k
ou plus
Ω
SHORT : 10 m
ou moins
0 05
,
Rdut
±
+
+
1
Rdut
10000
(Spécifié avec le nombre d'ondes : 128, Rdut : Valeur de mesure
de la résistance DC Unité : [
[OFF]
Ω
à 10 k
Spécifications fonctionnelles
 ×
[%]
100
Ω
])
quels que soient les réglages.
Ω
Ω
(résolution : 1
) disponible
12
289

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