Hioki IM7580A Manuel D'instructions page 148

Fonction d'analyse de circuit équivalent
Test à l'aide des résultats d'analyse
Lorsque le comparateur est activé et la zone de test définie, les valeurs estimées et les résultats de
test seront affichés après l'estimation de circuit équivalent. Les résultats de test peuvent également
être acquis à l'aide des commandes de communication ou de la sortie externe (EXT I/O).
Le résultat du test global est généré par la broche EXT I/O 14.
Reportez-vous à « 8 Contrôle externe » (p. 201).
Toutefois, le contenu du test varie selon que la méthode d'analyse est
Pour plus d'informations, reportez-vous au tableau suivant :
Méthode
d'analyse
À la fin de la mesure
MANUAL
Si l'analyse de circuit équivalent est
effectuée manuellement
Si l'analyse de circuit équivalent est
AUTO
effectuée à la fin de la mesure
140
Temporisation de test
Valeur estimée > limite supérieure
HI
Limite supérieure ≥ valeur estimée ≥ limite
IN
inférieure
Valeur estimée < limite inférieure
LO
- - - Si les normes de référence n'ont pas été
définies
[MANUAL]
Résultat de test global
Le résultat de test du comparateur de zone ou de
crête est généré.
Il n'y a aucune génération si le comparateur de zone
ou de crête n'a pas été configuré.
Efface les résultats de test du comparateur de zone
ou de crête, et génère le résultat du test global des
résultats d'analyse de circuit équivalent.
Les résultats de test du comparateur de zone ou de
crête, ainsi que le résultat du test global des résultats
d'analyse de circuit équivalent peuvent être générés.
ou [AUTO].