Détection De Open Lors De La Mesure À 2 Bornes (Fonction De Rejet Hi Z) - Hioki IM7580A Manuel D'instructions

Contrôle des défauts de contact (Fonction de contrôle des contacts)
7.1.3 Détection de OPEN lors de la mesure à 2 bornes (fonction de
rejet Hi Z)
Cette fonction génère une erreur de contact de la borne de mesure lorsque le résultat de la mesure
est supérieur à la référence du test définie. L'erreur est générée via l'écran de mesure et EXT I/O.
Cette erreur est indiquée par
de mesure dépasse la valeur de réglage.
Reportez-vous à « 8 Contrôle externe » (p. 201).
2
3
4 5
6
Le clavier numérique peut
être utilisé pour la saisie.
178
Hi Z sur l'écran de mesure. Une erreur est détectée lorsque la valeur
1
1
2
3
4
5
6
7
7
Appuyez sur [SETUP].
Appuyez sur l'onglet [CONTACT]
LCR.
Appuyez sur l'onglet [SWEEP]
ANALYZER.
Appuyez sur [Hi Z].
Appuyez sur [Hi Z].
Sélectionnez [OFF] ou
rejet Hi Z.
Désactive la fonction de rejet Hi Z.
[OFF]
Active la fonction de rejet Hi Z.
[ON]
Règle la valeur de référence de test avec /.
(Avec le clavier numérique, appuyez sur [SET].)
Ω
1 à 10 000
Gamme
réglable
Règle sur la valeur par défaut.
[C]
(Règle à 10 000
Appuyez sur [EXIT] pour fermer l'écran de
réglages.
pour le mode
pour le mode
[ON] pour la fonction de
Ω
Ω
.)