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Types des tests de diagnostic
Les tests de diagnostic sont divisés dans les catégories suivantes : UC, mémoire, carte système, lecteur de disque dur IDE
et contrôleur de réseau.
UC
Sélectionnez Processor Tests (Tests Processeur) dans le menu System (Système) pour les tests de l'UC. Les tests
vérifient que l'UC fonctionne correctement. Les tests de processeur comprennent les fonctions suivantes :
Basic Functionality (Fonctionnalité de base) - vérifie que l'UC fonctionne correctement et efficacement dans
tous les modes d'adressage. Le test est effectué en mode réel 16 bits.
Speed (Vitesse) - détermine et affiche la vitesse d'horloge de l'UC. L'écran affiche la vitesse de processeur idéale
et la vitesse d'horloge de l'UC. La vitesse de l'UC est déterminée en mesurant le nombre de cycles d'horloge de l'UC
qui se produisent dans une durée donnée.
Protected Mode (Mode protégé) - vérifie les instructions du mode protégé utilisées normalement par la plupart
des systèmes d'exploitation modernes pour passer en mode protégé.
Coprocessor (Coprocesseur) - vérifie la fonctionnalité du coprocesseur mathématique. Ce test charge et stocke
le mot de vérification et d'état, vérifie le transfert de données entre l'UC et le coprocesseur mathématique et teste
la vérification d'anomalie au cours du transfert de données.
Mémoire
Les tests Memory (Mémoire), qui rendent compte de la taille de la mémoire système, écrivent sur toutes les zones de la
mémoire système DRAM installée jusqu'à 2 Go. Le programme Diagnostics du système repère les modules de mémoire
défectueux et affiche un message qui identifie l'emplacement de la mémoire défectueuse.
Les tests Mémoire comprennent :
BIOS ROM Test (Test ROM du BIOS) - vérifie le chemin d'accès des données de la ROM du BIOS et vérifie que la
ROM est bien protégée contre l'écriture.
Parity Test (Test Parité) - recherche les erreurs de parité dans toute la mémoire système. Ce test est la
meilleure façon d'identifier et de rendre compte de la corruption de données liée aux problèmes matériels de la
mémoire système DRAM. Ce test diagnostique le circuit de détection d'erreurs de parité de la DRAM.
Pattern Tests (Tests Formes) - comprend des tests qui écrivent une série de formes de tests sur la mémoire,
puis relisent les formes et comparent les résultats lus avec la forme qui a été écrite. Les instructions de lecture et
d'écriture de la mémoire testent toute la DRAM. Les tests suivants sont des sous-tests du test de formes.
Extended Pattern Test (Test Formes étendu) comprend les deux procédures de tests suivantes qui
écrivent des données sur la mémoire, relisent les données puis les comparent :
Walking 1's Test (Test Baladeur 1) utilise les procédures du test de gauche de baladeur 1 et du test de
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